| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-17页 |
| ·课题背景 | 第8-11页 |
| ·国内外研究综述 | 第11-16页 |
| ·研究课题的来源及论文的主要内容 | 第16-17页 |
| 第2章 损耗在单耦合器环腔中的作用 | 第17-36页 |
| ·耦合器 | 第17-19页 |
| ·单耦合器环腔 | 第19-25页 |
| ·损耗的影响 | 第25-29页 |
| ·Lipson 等人的实验结果 | 第29-31页 |
| ·理论解释 | 第31-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第3章 损耗对环腔M—Z 干涉仪型光开关的影响 | 第36-46页 |
| ·M—Z 干涉仪型光开关 | 第36-43页 |
| ·普通M—Z 干涉仪型光开关 | 第36-38页 |
| ·环腔M—Z 干涉仪型全光开关 | 第38-43页 |
| ·损耗的影响及解决方法 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第4章 双耦合器环腔全光开关及损耗对其影响 | 第46-56页 |
| ·双耦合器环腔全光开关 | 第46-51页 |
| ·损耗的影响 | 第51-53页 |
| ·消除损耗影响的方案 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63页 |