电磁兼容自动测试的仪器程控研究及数据预处理
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景和意义 | 第7页 |
| ·国内外发展状况 | 第7-8页 |
| ·论文的主要工作 | 第8-11页 |
| 第二章 仪器程控互换性技术 | 第11-31页 |
| ·电磁兼容测试系统中仪器互换性分析 | 第11-12页 |
| ·测试总线的分类 | 第12-18页 |
| ·GPIB 总线 | 第13-15页 |
| ·LXI 总线 | 第15-16页 |
| ·USB 总线 | 第16-18页 |
| ·仪器程控互换的实现 | 第18-29页 |
| ·仪器控制互换的原理 | 第19-21页 |
| ·仪器程控的实现 | 第21-29页 |
| ·本章小结 | 第29-31页 |
| 第三章 电磁兼容测试系统多部仪器同步协作研究 | 第31-41页 |
| ·电磁兼容测试系统的同步协作分析 | 第31-34页 |
| ·电磁兼容测试系统中同步协作的问题 | 第31-33页 |
| ·测试系统中同步的内容 | 第33-34页 |
| ·电磁兼容测试系统同步的方法 | 第34-36页 |
| ·电磁兼容测试系统同步协作的实现 | 第36-39页 |
| ·标准测试系统中的延时方法 | 第36-38页 |
| ·标准测试系统中的顺序执行方法 | 第38页 |
| ·屏蔽效能测试系统中的状态查询方法 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-41页 |
| 第四章 数据预处理技术 | 第41-59页 |
| ·数据预处理需求分析 | 第41-42页 |
| ·测试饱和控制和数据校准 | 第42-48页 |
| ·测试饱和控制 | 第43-44页 |
| ·数据校准 | 第44-48页 |
| ·小波消噪技术 | 第48-51页 |
| ·包络和延拓技术 | 第51-55页 |
| ·包络技术 | 第51-53页 |
| ·延拓技术 | 第53-55页 |
| ·提取关键信息入库 | 第55-56页 |
| ·数据预处理实例 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第五章 总结与展望 | 第59-60页 |
| ·全文总结 | 第59页 |
| ·工作展望 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
