摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-13页 |
1 频率合成技术的发展历史 | 第13-33页 |
·频率合成技术的发展简史 | 第13-15页 |
·直接频率合成技术 | 第15-18页 |
·非相参频率直接合成器 | 第15页 |
·相参频率合成器 | 第15-18页 |
·锁相频率合成技术(间接频率合成) | 第18-26页 |
·脉冲控制锁相法 | 第18-19页 |
·模拟锁相环路法(减法降频) | 第19-22页 |
·数字锁相环路法(除法降频) | 第22-26页 |
·直接数字频率合成 | 第26-33页 |
·DDS 产品的发展 | 第27-29页 |
·DDS 结构与性能的改进 | 第29-31页 |
·DDS 应用领域的拓展 | 第31-33页 |
2 直接数字频率合成(DDS)的原理及性能分析 | 第33-56页 |
·理想参数波形输出DDS 的输出信号频谱分析 | 第37-43页 |
·实际参数波形输出DDS 的输出信号频谱分析 | 第43-55页 |
·实际参数波形输出DDS 的杂散分量来源 | 第43-44页 |
·实际参数波形输出DDS 杂散分析的数学模型 | 第44-45页 |
·相位截断误差分析 | 第45-49页 |
·幅度量化误差分析 | 第49-53页 |
·杂散功率计算 | 第53-55页 |
·本章小结 | 第55-56页 |
3 遮盖性干扰信号 | 第56-92页 |
·对雷达的遮盖性干扰 | 第57-63页 |
·遮盖性干扰的作用和分类 | 第57-59页 |
·遮盖性干扰的效果度量 | 第59-60页 |
·最佳遮盖干扰波形 | 第60-63页 |
·常用遮盖性干扰信号及其干扰效果分析 | 第63-91页 |
·射频噪声干扰 | 第63-71页 |
·噪声调幅干扰 | 第71-78页 |
·噪声调频干扰 | 第78-85页 |
·噪声调相干扰 | 第85-88页 |
·脉冲干扰 | 第88-91页 |
·本章小结 | 第91-92页 |
4 基于伪随机序列和DDS 技术的数字噪声源 | 第92-121页 |
·数字噪声源的组成结构 | 第93-95页 |
·伪随机序列的产生和变换 | 第95-111页 |
·均匀随机数的产生 | 第95-99页 |
·均匀随机数的检验 | 第99-101页 |
·非均匀随机数的产生 | 第101-107页 |
·RAND()函数 | 第107-111页 |
·数字噪声源的应用1----米波雷达干扰机 | 第111-115页 |
·米波雷达干扰机主要战术技术指标 | 第113页 |
·米波雷达干扰机系统方案 | 第113-114页 |
·干扰效果 | 第114-115页 |
·数字噪声源的应用2----内置式计算机干扰器 | 第115-119页 |
·干扰器系统结构 | 第116页 |
·硬件组成 | 第116-117页 |
·软件设计 | 第117-118页 |
·遮盖效果 | 第118-119页 |
·本章小结 | 第119-121页 |
5 基于DDS 技术的米波雷达自适应本振 | 第121-130页 |
·系统组成及工作原理 | 第122-123页 |
·硬件结构 | 第123-128页 |
·高速高精度脉内频率测量模块 | 第123-126页 |
·DDS 频率合成模块 | 第126-127页 |
·高稳定度恒温时钟模块 | 第127-128页 |
·软件结构 | 第128-129页 |
·本章小结 | 第129-130页 |
6 基于DDS 技术的MEMS 真空封装的真空度测量 | 第130-140页 |
·真空检测原理 | 第130-132页 |
·系统设计及实现 | 第132-136页 |
·电路结构 | 第132-135页 |
·软件结构 | 第135-136页 |
·测试结果及分析 | 第136-138页 |
·不同晶振的标定实验 | 第136-137页 |
·温度对晶振标定的影响 | 第137页 |
·晶振老化实验 | 第137页 |
·真空封装真空度跟踪实验 | 第137-138页 |
·本章小结 | 第138-140页 |
7 总结与展望 | 第140-143页 |
·总结 | 第140-142页 |
·展望 | 第142-143页 |
致谢 | 第143-144页 |
参考文献 | 第144-150页 |
附录 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第150页 |