| 第一章 绪论 | 第1-23页 |
| ·电源IC发展综述 | 第11-18页 |
| ·电源IC已形成一个大家族 | 第11-12页 |
| ·先从手机谈起 | 第12-13页 |
| ·最大的改进是减少功耗 | 第13-15页 |
| ·完善的保护措施 | 第15-16页 |
| ·封装上的变化 | 第16页 |
| ·降低输出噪声及纹波电压 | 第16-17页 |
| ·便于用户使用 | 第17-18页 |
| ·线性稳压器在便携式产品中的应用 | 第18-22页 |
| ·线性稳压器与开关型稳压器的性能对比 | 第18-20页 |
| ·设计考虑 | 第20-21页 |
| ·散热问题 | 第21-22页 |
| ·本文提出的LDO线性稳压器性能指标 | 第22-23页 |
| 第二章 LDO线性稳压器的系统构架与性能分析 | 第23-28页 |
| ·LDO线性稳压器的系统构架 | 第23-24页 |
| ·LDO线性稳压器的系统结构 | 第23-24页 |
| ·LDO线性稳压器系统结构的设计要求 | 第24页 |
| ·LDO线性稳压器的性能分析 | 第24-28页 |
| ·漏失电压(V_(DO))和静态电流(I_q) | 第24-25页 |
| ·功耗(P_W)和效率(η) | 第25页 |
| ·负载调整能力和线性调整能力 | 第25-26页 |
| ·瞬态响应 | 第26页 |
| ·输出精度 | 第26-27页 |
| ·调整管的尺寸 | 第27-28页 |
| 第三章 LDO线性稳压器电路结构的设计与实现 | 第28-60页 |
| ·电流偏置电路 | 第28-42页 |
| ·CMOS BIAS电流的电路结构 | 第28-32页 |
| ·工作在饱和区情况 | 第29页 |
| ·工作在亚阂值区情况 | 第29-32页 |
| ·温度特性的理论分析 | 第32-36页 |
| ·工作在饱和区情况 | 第32-33页 |
| ·工作在亚阈值区情况 | 第33-36页 |
| ·仿真结果 | 第36-40页 |
| ·Bias电流(V_(DD)从0变化到6V) | 第37-38页 |
| ·饱和区 | 第37页 |
| ·亚阈值区 | 第37-38页 |
| ·温度仿真(温度从-40℃变化到160℃) | 第38-39页 |
| ·饱和区 | 第38页 |
| ·亚阈区 | 第38-39页 |
| ·启动部分以及瞬态稳定性 | 第39-40页 |
| ·饱和区 | 第39页 |
| ·亚阈值区 | 第39-40页 |
| ·PSRR(频率范围从0.1Hz到100MEG Hz) | 第40页 |
| ·饱和区 | 第40页 |
| ·亚阈值区 | 第40页 |
| ·比较 | 第40-41页 |
| ·结论 | 第41-42页 |
| ·BG_REGULATOR | 第42-47页 |
| ·BG_REGULATOR的电路分析 | 第42-43页 |
| ·仿真激励设置 | 第43-44页 |
| ·BG_REGULATOR的电路仿真 | 第44-47页 |
| ·开环差模增益 | 第44-45页 |
| ·共模抑制比(CMRR) | 第45页 |
| ·共模增益 | 第45-46页 |
| ·共模输入范围 | 第46页 |
| ·输出电压范围 | 第46-47页 |
| ·瞬态特性 | 第47页 |
| ·带隙基准电压源Band gap | 第47-56页 |
| ·带隙基准电路基础 | 第47-51页 |
| ·带隙基准电路设计与实现 | 第51-56页 |
| ·温度保护电路 | 第56-60页 |
| ·温度保护电路的工作原理图 | 第57页 |
| ·温度保护电路的电路图 | 第57-58页 |
| ·温度保护电路的仿真结果 | 第58-60页 |
| ·温度保护电路比较器的频率响应 | 第58页 |
| ·温度保护电路比较器两输入端的温度扫描 | 第58-59页 |
| ·温度保护电路输出端的温度扫描 | 第59-60页 |
| 第四章 误差放大器的设计与实现和LDO线性稳压器的稳定性测试 | 第60-102页 |
| ·误差放大器ERRAMP总体结构框图 | 第60-61页 |
| ·误差放大器ERRAMP的具体电路结构 | 第61-92页 |
| ·误差放大器ERRAMP的总体结构框图 | 第61页 |
| ·启动电路(Soft Start) | 第61-67页 |
| ·典型的软启动电路的简单结构和工作过程 | 第61-63页 |
| ·带有温度补偿的软启动电路的工作原理和设计 | 第63-65页 |
| ·软启动电路的模拟和测试结果 | 第65-67页 |
| ·限流电路(current limit) | 第67-74页 |
| ·限流电路的电路概述 | 第67页 |
| ·限流电路的电路结构 | 第67-68页 |
| ·限流电路的工作原理 | 第68-74页 |
| ·限流时电路的工作原理 | 第68-69页 |
| ·短路保护电路工作原理 | 第69-70页 |
| ·限流点的决定 | 第70页 |
| ·限流电路的敏感器件 | 第70页 |
| ·限流电路深入的原理分析 | 第70-73页 |
| ·限流电路的仿真结果 | 第73-74页 |
| ·瞬态响应帮助电路(help to push high) | 第74-77页 |
| ·瞬态响应帮助电路的电路结构 | 第74-75页 |
| ·瞬态响应帮助电路的工作原理 | 第75-76页 |
| ·瞬态响应帮助电路的仿真结果 | 第76-77页 |
| ·短路保护的帮助电路(help to pull low) | 第77-78页 |
| ·短路保护的帮助电路的电路结构 | 第77页 |
| ·短路保护的帮助电路的工作原理 | 第77-78页 |
| ·短路保护的帮助电路的仿真结果 | 第78页 |
| ·误差放大器的频率补偿 | 第78-84页 |
| ·误差放大器的频率补偿分析 | 第78-83页 |
| ·误差放大器的低静态电流考虑 | 第83-84页 |
| ·误差放大器的仿真结果 | 第84-92页 |
| ·输入输出压差dropout | 第84-85页 |
| ·静态电流Iq | 第85-87页 |
| ·负载调整能力 | 第87-88页 |
| ·线性调整能力 | 第88-89页 |
| ·电源电压抑制比PSRR | 第89-90页 |
| ·开环增益和相位裕度 | 第90-92页 |
| ·LDO线性稳压器的系统稳定性测试 | 第92-102页 |
| ·LDO线性稳压器的系统稳定性的测试方法 | 第92-94页 |
| ·LDO线性稳压器芯片的整体仿真 | 第94-102页 |
| ·电源的开启与关断性能 | 第94-96页 |
| ·关断与释放性能 | 第96-97页 |
| ·线性瞬态性能 | 第97-98页 |
| ·负载瞬态性能 | 第98-99页 |
| ·限流和释放性能 | 第99页 |
| ·短路和释放性能 | 第99-100页 |
| ·输入、输出压差 | 第100页 |
| ·线性调整能力 | 第100-101页 |
| ·负载调整能力 | 第101-102页 |
| 第五章 LDO线性稳压器的版图测试 | 第102-108页 |
| ·LDO线性稳压器的版图测试 | 第102-107页 |
| ·LDO线性稳压器的小结 | 第107-108页 |
| 第六章 LDO线性稳压器的回顾与展望 | 第108-111页 |
| ·LDO线性稳压器的回顾与总结 | 第108-109页 |
| ·LDO线性稳压器的未来展望 | 第109-111页 |
| 参考文献 | 第111-115页 |
| 致谢 | 第115页 |
