| 第一章 绪论 | 第1-22页 |
| ·感应加热的基本原理 | 第6-9页 |
| ·感应加热的特点 | 第6-7页 |
| ·感应加热的基本原理 | 第7页 |
| ·集肤效应和透入深度 | 第7-9页 |
| ·感应加热电源发展现状 | 第9-13页 |
| ·感应加热电源开关器件方面的发展 | 第9-10页 |
| ·感应加热电源拓朴结构方面的发展 | 第10-12页 |
| ·感应加热电源的发展趋势 | 第12-13页 |
| ·IGBT谐振研究现状 | 第13-20页 |
| ·IGBT损耗的构成 | 第14-16页 |
| ·损耗研究的方法及现状 | 第16-20页 |
| ·选题的背景意义及本文的主要内容 | 第20-22页 |
| ·选题的背景意义 | 第20-21页 |
| ·本文的主要工作 | 第21-22页 |
| 第二章 IGBT器件结构及工作原理 | 第22-37页 |
| ·IGBT概念的提出及其发展 | 第22-24页 |
| ·IGBT概念的提出 | 第22-23页 |
| ·IGBT的发展概况 | 第23-24页 |
| ·IGBT的结构及主要特性简介 | 第24-29页 |
| ·IGBT的结构和工作原理 | 第24-25页 |
| ·IGBT的栅极结构 | 第25-26页 |
| ·IGBT的主要特性 | 第26-29页 |
| ·穿通型IGBT(PT-IGBT)和非穿通型IGBT(NPT-IGBT)的比较 | 第29-36页 |
| ·穿通型IGBT(PT-IGBT) | 第29-31页 |
| ·非穿通型IGBT(NPT-IGBT) | 第31页 |
| ·PT-IGBT和NPT-IGBT的比较 | 第31-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 试验平台 | 第37-53页 |
| ·平台的选择 | 第37页 |
| ·并联型感应加热电源主电路结构 | 第37-46页 |
| ·整流部分 | 第38-39页 |
| ·滤波器 | 第39-41页 |
| ·逆变器 | 第41-44页 |
| ·逆变器负载 | 第44-46页 |
| ·逆变器的控制 | 第46-52页 |
| ·单逆变桥 | 第47-49页 |
| ·传统的并行控制方法 | 第49-50页 |
| ·分时控制 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第四章 IGBT的损耗研究 | 第53-69页 |
| ·不同开关状态下的损耗研究 | 第54-59页 |
| ·HS测试电路 | 第55-56页 |
| ·ZCS测试电路 | 第56-57页 |
| ·ZVS测试电路 | 第57-58页 |
| ·不同测试电路的对比结果 | 第58-59页 |
| ·不同门极结构器件的损耗研究 | 第59-61页 |
| ·不同频率的损耗研究 | 第61-67页 |
| ·不同工作电流下的损耗研究 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第五章 试验结果分析 | 第69-82页 |
| ·并行控制 | 第70-74页 |
| ·损耗与电流的关系 | 第70-72页 |
| ·损耗与逆变角的关系 | 第72-73页 |
| ·损耗与频率的关系 | 第73-74页 |
| ·分时控制 | 第74-77页 |
| ·损耗与电流的关系 | 第74-76页 |
| ·损耗与逆变角的关系 | 第76页 |
| ·损耗与频率的关系 | 第76-77页 |
| ·并行控制与分时控制的损耗对比 | 第77-81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-87页 |
| 致谢 | 第87-88页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文 | 第88页 |