第一章 绪论 | 第1-11页 |
·、课题研究的目的、意义 | 第9页 |
·和本课题有关的国内外研究现状分析,包括发展水平和存在的问题等 | 第9-10页 |
·研究目标、研究内容和拟解决的关键问题 | 第10页 |
·研究成果和创新点 | 第10页 |
·、本章小结 | 第10-11页 |
第二章 回转窑轴线的变化分析 | 第11-20页 |
·热态时轴线变化的几何关系 | 第11-14页 |
·冷态时轴线变化的几何关系 | 第14-15页 |
·回转窑动态检测的重要性 | 第15-16页 |
·回转窑动态检测的方法简介 | 第16-20页 |
·轮带位置测量法 | 第16-17页 |
·F.L.S测窑方法 | 第17页 |
·托轮位置测定法 | 第17页 |
·筒体位置测定法 | 第17-18页 |
·KAS-3型动态窑轴线测量法 | 第18页 |
·直接测量法 | 第18-20页 |
第三章 回转窑动态参数测量的原理和方法 | 第20-26页 |
·筒体中心线 | 第20-21页 |
·垂直面的直线度的测量 | 第20页 |
·水平面的直线度的测量 | 第20-21页 |
·温度误差分析 | 第21页 |
·位置参数的测量 | 第21-22页 |
·轮带直径的测量 | 第22-23页 |
·回转窑大齿圈偏摆的测量 | 第23页 |
·轮带间隙的测量 | 第23-24页 |
·测量托轮直径 | 第24-25页 |
·此方法的优点 | 第25-26页 |
第四章 便携式参数测量仪器的硬件电路设计 | 第26-46页 |
·单片机系统概述 | 第26-28页 |
·仪器主要性能 | 第27页 |
·仪器主要技术指标 | 第27-28页 |
·操作使用特点 | 第28页 |
·传感器的选择 | 第28-29页 |
·单片机硬件系统的具体组成 | 第29-43页 |
·P89C668HBA单片机的介绍 | 第29-31页 |
·P89C668的主要作用 | 第31页 |
·Flash存储器Am29F040 | 第31-35页 |
·通用可编程逻辑器件GAL20V8 | 第35-37页 |
·TRULY12864点阵图形液晶显示器 | 第37-39页 |
·A/D转换模块TLC2543 | 第39-40页 |
·电源电路设计 | 第40-42页 |
·复位电路和数据传输 | 第42-43页 |
·单片机系统的干扰及硬件抗干扰措施 | 第43-45页 |
·小结 | 第45-46页 |
第五章 单片机系统的软件设计 | 第46-67页 |
·软件开发环境及软件开发语言 | 第46-47页 |
·回转窑参数测量仪的程序设计 | 第47-65页 |
·液晶显示程序 | 第47-54页 |
·存储器29f040操作程序 | 第54-55页 |
·测量间隙子程序 | 第55-59页 |
·测量直径子程序 | 第59-62页 |
·S A/D转换程序(TLC2543) | 第62-64页 |
·齿轮测量子程序及其流程图 | 第64-65页 |
·软件整体(即主程序)设计 | 第65-66页 |
·小结 | 第66-67页 |
第六章 基于Labview的数据处理 | 第67-74页 |
·LabVIEW开发环境 | 第67-68页 |
·LabVIEW的应用优点 | 第68页 |
·LABVIEW软件设计 | 第68-69页 |
·软件总体构成 | 第69-71页 |
·数据采集程序的设计 | 第70页 |
·数据处理模块 | 第70-71页 |
·数据打印模块 | 第71页 |
·LABVIEW的子VI的创建和EXE文件的生成 | 第71-73页 |
·子VI的创建 | 第72页 |
·创建 EXE文件 | 第72-73页 |
·本章小结 | 第73-74页 |
第七章 系统调试及特点 | 第74-79页 |
7、1 传感器数据标定 | 第74-75页 |
7、2 客户端界面设置 | 第75-77页 |
7、3 参数测量仪器的接口及按键 | 第77页 |
7、4 系统特点 | 第77-78页 |
7、5 本章小结 | 第78-79页 |
第八章 结论与展望 | 第79-81页 |
·结论 | 第79页 |
·展望 | 第79-81页 |
参考文献 | 第81-84页 |
作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第84-85页 |
致谢 | 第85-86页 |
附录 | 第86页 |