损伤记忆元件研究
摘要 | 第1-3页 |
ABSTRACT | 第3-4页 |
目录 | 第4-5页 |
第一章 绪论 | 第5-13页 |
·引言 | 第5页 |
·损伤检测研究的发展及现状 | 第5-10页 |
·隐性损伤的概念 | 第10-11页 |
·本文的主要研究内容 | 第11-13页 |
第二章 隐性损伤检测技术概述 | 第13-20页 |
·隐性损伤及检测的提出 | 第13页 |
·电阻式隐性损伤敏感元件的研究 | 第13-15页 |
·电磁式检测技术的概述 | 第15-16页 |
·电磁式检测技术研究的发展与现状 | 第16-19页 |
·本章小结 | 第19-20页 |
第三章 金属磁记忆检测技术的基本理论 | 第20-26页 |
·物质磁性的分类及来源 | 第20-22页 |
·磁畴理论的概述 | 第22-23页 |
·磁化过程及畴壁的运动 | 第23-25页 |
·本章小结 | 第25-26页 |
第四章 损伤状态磁记忆信号研究 | 第26-55页 |
·试验 | 第26-31页 |
·缺陷对磁记忆信号影响的理论分析 | 第31-35页 |
·拉伸的损伤状态磁记忆信号研究 | 第35-43页 |
·扭转的损伤状态磁记忆信号研究 | 第43-51页 |
·损伤记忆元件的对比分析 | 第51-54页 |
·本章小结 | 第54-55页 |
第五章 总结与展望 | 第55-56页 |
致谢 | 第56-57页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第57-58页 |
参考文献 | 第58-59页 |