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损伤记忆元件研究

摘要第1-3页
ABSTRACT第3-4页
目录第4-5页
第一章 绪论第5-13页
   ·引言第5页
   ·损伤检测研究的发展及现状第5-10页
   ·隐性损伤的概念第10-11页
   ·本文的主要研究内容第11-13页
第二章 隐性损伤检测技术概述第13-20页
   ·隐性损伤及检测的提出第13页
   ·电阻式隐性损伤敏感元件的研究第13-15页
   ·电磁式检测技术的概述第15-16页
   ·电磁式检测技术研究的发展与现状第16-19页
   ·本章小结第19-20页
第三章 金属磁记忆检测技术的基本理论第20-26页
   ·物质磁性的分类及来源第20-22页
   ·磁畴理论的概述第22-23页
   ·磁化过程及畴壁的运动第23-25页
   ·本章小结第25-26页
第四章 损伤状态磁记忆信号研究第26-55页
   ·试验第26-31页
   ·缺陷对磁记忆信号影响的理论分析第31-35页
   ·拉伸的损伤状态磁记忆信号研究第35-43页
   ·扭转的损伤状态磁记忆信号研究第43-51页
   ·损伤记忆元件的对比分析第51-54页
   ·本章小结第54-55页
第五章 总结与展望第55-56页
致谢第56-57页
攻读硕士学位期间发表的论文第57-58页
参考文献第58-59页

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