砷化镓光电导探测器的质子辐照改性研究
| 第一章 引言 | 第1-12页 |
| ·国内外的研究现状 | 第9-10页 |
| ·研究的意义和应用前景 | 第10页 |
| 参考文献 | 第10-12页 |
| 第二章 晶体材料辐照效应 | 第12-26页 |
| ·辐照损伤研究的历史 | 第13-14页 |
| ·核反应堆材料研究 | 第13页 |
| ·晶体缺陷的研究 | 第13-14页 |
| ·辐照理论的研究 | 第14页 |
| ·辐照在晶体中产生缺陷的种类 | 第14-17页 |
| ·晶体中缺陷的种类 | 第14-15页 |
| ·晶体缺陷的形成及各种缺陷之间的相互作用 | 第15-17页 |
| ·辐射与物质的相互作用 | 第17-23页 |
| ·带电粒子与物质的相互作用过程 | 第17-18页 |
| ·带电粒子在物质中的能量损失 | 第18-20页 |
| ·带电粒子在物质中的射程 | 第20-21页 |
| ·电离效应和位移效应 | 第21-23页 |
| ·砷化镓材料的电子及质子辐照 | 第23-24页 |
| 参考文献 | 第24-26页 |
| 第三章 半导体光电导探测器 | 第26-37页 |
| ·半导体材料的光电性质 | 第26-32页 |
| ·砷化镓基本性质 | 第26-27页 |
| ·光电性质 | 第27-32页 |
| ·本征光电导探测器的工作原理 | 第32-35页 |
| 参考文献 | 第35-37页 |
| 第四章 砷化镓光电导探测器的制作及结构 | 第37-42页 |
| ·探测器制作工艺 | 第37-39页 |
| ·探测器结构、外观 | 第39-41页 |
| 参考文献 | 第41-42页 |
| 第五章 改性前后砷化镓材料参数的测量 | 第42-47页 |
| ·辐照前后少数载流子寿命的测量 | 第42-44页 |
| ·测量原理 | 第42-43页 |
| ·测量结果 | 第43-44页 |
| ·辐照前后迁移率测量 | 第44-46页 |
| ·范德堡法原理和方法 | 第44-45页 |
| ·测量结果与分析 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-47页 |
| 第六章 改性前后探测器性能的测量 | 第47-60页 |
| ·辐照前后探测器Ⅰ-Ⅴ特性的测试 | 第47-50页 |
| ·测量原理 | 第47-48页 |
| ·测量结果与分析 | 第48-50页 |
| ·探测器灵敏度的测量 | 第50-53页 |
| ·测量方法及实验装置 | 第51页 |
| ·测量结果与分析 | 第51-53页 |
| ·探测器对X射线脉冲的响应的测量 | 第53-58页 |
| ·实验装置 | 第53-54页 |
| ·测量结果与分析 | 第54-58页 |
| 参考文献 | 第58-60页 |
| 第七章 总结 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 附录 | 第62-63页 |
| 声明 | 第63页 |
