嵌入式SRAM优化设计
| 第一章 引言 | 第1-11页 |
| 第二章 SRAM工作原理 | 第11-23页 |
| §2．1SRAM概述 | 第11-12页 |
| §2．2基本单元电路结构种类及特点 | 第12-17页 |
| §2．2．1数据存储原理 | 第12-13页 |
| §2．2．2四管单元结构 | 第13-14页 |
| §2．2．3六管单元结构 | 第14-15页 |
| §2．2．4七管单元结构 | 第15-16页 |
| §2．2．5十管单元结构 | 第16-17页 |
| §2．3SRAM单元工作原理 | 第17-19页 |
| §2．4噪声容限分析 | 第19-23页 |
| 第三章 SRAM电路设计 | 第23-47页 |
| §3．1单元设计 | 第24-25页 |
| §3．2存储阵列优化设计 | 第25-29页 |
| §3．2．1存储阵列分块结构 | 第26-27页 |
| §3．2．2预充电及平衡电路 | 第27-29页 |
| §3．3译码电路设计 | 第29-30页 |
| §3．4外围控制电路设计 | 第30-35页 |
| §3．4．1地址探测电路 | 第30-33页 |
| §3．4．2输出控制电路 | 第33-34页 |
| §3．4．3 输入缓冲电路 | 第34-35页 |
| §3．5敏感放大器优化设计 | 第35-39页 |
| §3．5．1敏感放大器层次化结构 | 第35-36页 |
| §3．5．2第一级敏感放大器设计 | 第36-37页 |
| §3．5．3第二级敏感放大器设计 | 第37-39页 |
| §3．6功能仿真 | 第39-47页 |
| §3．6．1SRAM电路读写功能控制 | 第39-40页 |
| §3．6．2整体功能仿真 | 第40-47页 |
| §3．6．2．1仿真工具描述 | 第40-41页 |
| §3．6．2．2仿真结果 | 第41-47页 |
| 第四章 内建自测试的原理及电路设计 | 第47-59页 |
| §4．1内建自测试的原理 | 第47-49页 |
| §4．2SRAM常见故障分析 | 第49-52页 |
| §4．3电路设计 | 第52-59页 |
| §4．3．1算法描述 | 第52-54页 |
| §4．3．2程序流程设计 | 第54-56页 |
| §4．3．3具体电路设计 | 第56-59页 |
| 第五章 结论 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 个人简历 | 第63页 |
