微机指纹识别技术的研究
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| 1．1 引言 | 第9-10页 |
| 1．2 指纹识别技术的发展历史及现状 | 第10-11页 |
| 1．3 指纹识别方法综述 | 第11-14页 |
| 1．4 指纹识别方案总体设计 | 第14页 |
| 1．5 研究目标 | 第14-16页 |
| 2 指纹识别系统简介 | 第16-22页 |
| 2．1 指纹图像的获取--取像设备原理 | 第16-18页 |
| 2．1．1 光学取像设备 | 第16页 |
| 2．1．2 晶体传感器 | 第16-17页 |
| 2．1．3 超声波扫描取像设备 | 第17页 |
| 2．1．4 指纹取像技术的发展近况和技术比较 | 第17-18页 |
| 2．2 指纹识别的基本过程 | 第18页 |
| 2．3 验证和辨识--两种指纹识别技术 | 第18-20页 |
| 2．4 可靠性问题 | 第20-22页 |
| 3 预处理 | 第22-41页 |
| 3．1 引言 | 第22页 |
| 3．2 方向图 | 第22-27页 |
| 3．2．1 点方向图的提取 | 第23-26页 |
| 3．2．2 块方向图的提取 | 第26-27页 |
| 3．3 滤波去噪 | 第27-29页 |
| 3．3．1 水平滤波模板的选取 | 第28页 |
| 3．3．2 任意方向的模板 | 第28-29页 |
| 3．4 二值化 | 第29-31页 |
| 3．5 修饰处理 | 第31-34页 |
| 3．6 细化 | 第34-41页 |
| 4 指纹特征提取 | 第41-53页 |
| 4．1 引言 | 第41页 |
| 4．2 总体特征 | 第41-43页 |
| 4．3 细节特征 | 第43-44页 |
| 4．3．1 细节特征点的类型 | 第43-44页 |
| 4．3．2 位置（POSITION） | 第44页 |
| 4．3．3 方向（ORIENTATION） | 第44页 |
| 4．3．4 曲率（CURVATURE） | 第44页 |
| 4．4 细节特征点的提取 | 第44-49页 |
| 4．5 常见的伪特征点 | 第49-50页 |
| 4．6 细节特征的验证 | 第50-53页 |
| 4．6．1 去除可疑的细节特征 | 第50-51页 |
| 4．6．2 验证细节特征点的可信度 | 第51-53页 |
| 5 指纹匹配 | 第53-65页 |
| 5．1 引言 | 第53页 |
| 5．2 特征点匹配算法的介绍 | 第53-55页 |
| 5．3 特征点匹配的主要问题 | 第55-56页 |
| 5．4 匹配问题的数学表述 | 第56-57页 |
| 5．5 匹配的基本原理 | 第57-59页 |
| 5．6 匹配支持变量Ω[I,M]的测定 | 第59-61页 |
| 5．7 几何形变参数的测定 | 第61-63页 |
| 5．8 匹配对的检测 | 第63-65页 |
| 6 实验及应用 | 第65-71页 |
| 6．1 实验条件 | 第65页 |
| 6．1．1 硬件环境 | 第65页 |
| 6．1．2 软件开发环境 | 第65页 |
| 6．2 预处理实验结果及分析 | 第65-67页 |
| 6．3 细节特征提取和验证实验结果和分析 | 第67-68页 |
| 6．4 指纹匹配实验结果及分析 | 第68-69页 |
| 6．5 应用情况 | 第69-71页 |
| 7 全文工作总结 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-78页 |
| 附录 | 第78页 |
