凸轮轴表面缺陷全自动检测中数字图像处理与识别的研究
| 中文摘要 | 第1页 |
| 英文摘要 | 第3-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| 1．1 磁粉探伤 | 第7-8页 |
| 1．1．1 磁粉探伤技术的发展简史 | 第7页 |
| 1．1．2 磁粉探伤的基本原理 | 第7-8页 |
| 1．1．3 磁粉探伤技术的现状 | 第8页 |
| 1．2 数字图像处理 | 第8-10页 |
| 1．2．1 数字图像的处理和识别 | 第8-9页 |
| 1．2．2 数字图像处理的内容 | 第9-10页 |
| 1．2．3 数字图像处理的应用 | 第10页 |
| 1．3 问题的提出 | 第10页 |
| 1．4 论文任务 | 第10-11页 |
| 第二章 图像采集系统 | 第11-16页 |
| 2．1 图像处理硬件系统 | 第11-12页 |
| 2．2 数码相机的工作原理 | 第12-14页 |
| 2．2．1 数码相机的组成 | 第12-13页 |
| 2．2．2 数码相机的种类 | 第13页 |
| 2．2．3 数码相机的工作过程 | 第13-14页 |
| 2．3 磁痕图像的采集 | 第14-16页 |
| 2．3．1 图像采集系统的组成 | 第14页 |
| 2．3．2 图像采集系统工作过程 | 第14-15页 |
| 2．3．3 图像数据传输 | 第15-16页 |
| 第三章 数字图像的处理和识别 | 第16-28页 |
| 3．1 数字图像的表示 | 第16页 |
| 3．2 图像增强 | 第16-22页 |
| 3．2．1 用直方图修改技术进行图像增强 | 第17-19页 |
| 3．2．1．1 直方图修改技术的基础 | 第17-18页 |
| 3．2．1．2 直方图均衡化处理 | 第18页 |
| 3．2．1．3 图像对比度处理 | 第18-19页 |
| 3．2．1．4 直方图规定化处理 | 第19页 |
| 3．2．2 图像平滑处理 | 第19-20页 |
| 3．2．2．1 邻域平均法 | 第19-20页 |
| 3．2．2．2中值滤波法 | 第20页 |
| 3．2．3 图像尖锐化处理 | 第20-22页 |
| 3．2．3．1 梯度锐化 | 第20-21页 |
| 3．2．3．2 拉普拉斯锐化 | 第21-22页 |
| 3．3 灰度图像的数学形态学好处理 | 第22-24页 |
| 3．3．1 膨胀 | 第22-23页 |
| 3．3．2 边缘提取算法 | 第23-24页 |
| 3．4 图像分割 | 第24-28页 |
| 3．4．1 图像的阈值分割 | 第24-25页 |
| 3．4．2 图像的区域分割 | 第25-28页 |
| 第四章 软件设计 | 第28-35页 |
| 4．1 Visual C++的优势 | 第28-29页 |
| 4．1．1 关于 Visual C++ | 第28页 |
| 4．1．2 面向对象的程序设计方法的采用 | 第28页 |
| 4．1．3 强大的MFC优势 | 第28-29页 |
| 4．1．4 丰富的技术资源 | 第29页 |
| 4．2 构造自己的DIB函数库 | 第29-31页 |
| 4．2．1 图像的存储格式 | 第29-30页 |
| 4．2．2 BMP位图文件及其函数军的生成 | 第30-31页 |
| 4．3 软件设计 | 第31-35页 |
| 4．3．1 功能设计 | 第31-32页 |
| 4．3．2 用户界面设计 | 第32-33页 |
| 4．3．3 菜单设计 | 第33-34页 |
| 4．3．4 工具栏设计 | 第34-35页 |
| 第五章 图像处理软件方案设计 | 第35-51页 |
| 5．1 第一方案 | 第35-40页 |
| 5．1．1 去除工件边界 | 第35-37页 |
| 5．1．2 图像的单色化 | 第37页 |
| 5．1．3 图像自适应阈值的选择 | 第37-38页 |
| 5．1．4 条件跟踪技术 | 第38页 |
| 5．1．5 图像膨胀技术 | 第38页 |
| 5．1．6 确定缺陷数目和类型 | 第38-40页 |
| 5．2 第二方案 | 第40-49页 |
| 5．2．1 图像的单色化 | 第40-41页 |
| 5．2．2 图像的差影处理 | 第41-44页 |
| 5．2．3 增强图像对比度处理 | 第44-45页 |
| 5．2．4 图像的尖锐化处理 | 第45-46页 |
| 5．2．5 图像的阈值分割 | 第46-49页 |
| 5．2．6 裂纹识别 | 第49页 |
| 5．2．7 计算机控制及记录 | 第49页 |
| 5．3 方案可行性分析 | 第49-51页 |
| 第六章 结束语 | 第51-52页 |
| 6．1 本文总结 | 第51页 |
| 6．2 今后展望 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53页 |
