| 第一章 引言 | 第1-30页 |
| 1．1 交流阻抗测试技术 | 第10-12页 |
| 1．2 交流阻抗数据解析 | 第12-28页 |
| 1．2．1 图解法 | 第12-22页 |
| 1．2．1．1 Bode图解法和Nyquist图解法 | 第12-19页 |
| 1．2．1．2 其他图解法 | 第19-22页 |
| 1．2．2 曲线拟合法 | 第22-28页 |
| 1．2．2．1 CIRFIT算法 | 第22-23页 |
| 1．2．2．2 改进的CIRFIT算法 | 第23-24页 |
| 1．2．2．3 具有弥散效应的交流阻抗数据解析 | 第24-25页 |
| 1．2．2．4 理论阻抗谱的计算 | 第25-27页 |
| 1．2．2．5 随机单纯形法分析交流阻抗数据 | 第27-28页 |
| 1．3 交流阻抗参数解析进展 | 第28-30页 |
| 第二章 交流阻抗的理论基础 | 第30-40页 |
| 2．1 几个基本的电路的阻抗 | 第30-36页 |
| 2．1．1 R与C串联的电路 | 第32-33页 |
| 2．1．2 R与C并联的电路 | 第33-35页 |
| 2．1．3 R和L组成的电路 | 第35-36页 |
| 2．2 电极系统的交流阻抗 | 第36-40页 |
| 第三章 参数解析的数学方法 | 第40-58页 |
| 3．1 等效电路的化简 | 第40-41页 |
| 3．2 初值的求解 | 第41-54页 |
| 3．2．1 圆周轨迹求圆方程 | 第42-43页 |
| 3．2．2 一个或两个时间常数的阻抗谱初值求解 | 第43-45页 |
| 3．2．3 三个时间常数的阻抗谱初值求解 | 第45-54页 |
| 3．3 优化参数的数学方法 | 第54-58页 |
| 3．3．1 非线性最小二乘法拟合的一般 | 第54-55页 |
| 3．3．2 目标函数的选取 | 第55-57页 |
| 3．3．3 矩阵求解的数学方法 | 第57-58页 |
| 第四章 软件设计 | 第58-65页 |
| 4．1 编程语言 | 第58页 |
| 4．2 程序设计思路 | 第58-62页 |
| 4．2．1 读取数据和建立坐标 | 第58-59页 |
| 4．2．2 清除漂移点 | 第59页 |
| 4．2．3 根据阻抗谱图识别对应的等效电路 | 第59-60页 |
| 4．2．4 求解初值 | 第60-61页 |
| 4．2．5 求出参数值 | 第61-62页 |
| 4．2．6 程序流程框图 | 第62页 |
| 4．3 软件需求分析 | 第62-63页 |
| 4．3．1 系统需求分析 | 第62-63页 |
| 4．3．2 硬件环境要求 | 第63页 |
| 4．4 操作说明 | 第63-65页 |
| 第五章 实验验证与结果讨论 | 第65-71页 |
| 5．1 解析实例 | 第65-69页 |
| 5．1．1 模拟电路的交流阻抗数据解析 | 第65-67页 |
| 5．1．2 实际电极体系的交流阻抗数据解析 | 第67-68页 |
| 5．1．3 与EQUIVCRT软件解析的比较 | 第68-69页 |
| 5．2 结果讨论 | 第69-71页 |
| 第六章 结语 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-74页 |