| 致谢 | 第1-4页 |
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-19页 |
| ·测试技术的发展概况 | 第10-12页 |
| ·测试算法的选择和评价 | 第12-14页 |
| ·半导体存储器故障诊断的工具 | 第14-18页 |
| ·本文的安排 | 第18-19页 |
| 第2章 半导体存储器测试系统描述 | 第19-36页 |
| ·半导体存储器测试分类及测试内容 | 第19-21页 |
| ·按目的测试分类 | 第19-20页 |
| ·按性能测试分类 | 第20-21页 |
| ·半导体存储器测试系统的硬件结构 | 第21-25页 |
| ·存储器测试系统硬件的基本组成 | 第21-24页 |
| ·存储器测试系统流水线结构 | 第24-25页 |
| ·存储器测试系统工作过程 | 第25页 |
| ·基于合成方法的半导体存储器测试系统软件设计与实现 | 第25-36页 |
| ·存储器测试系统软件的系统分析 | 第27-31页 |
| ·存储器测试系统软件的系统设计 | 第31-34页 |
| ·存储器测试系统软件的系统实现 | 第34-36页 |
| 第3章 半导体存储器故障类型的分析 | 第36-50页 |
| ·半导体存储器的分类与性能指标 | 第37-40页 |
| ·半导体存储器的分类 | 第37-38页 |
| ·半导体存储器的性能指标 | 第38-40页 |
| ·半导体存储器的基本组成和结构 | 第40-41页 |
| ·半导体存储器产生故障原因的分析 | 第41-46页 |
| ·半导体存储器硬失效(故障)的分析 | 第42-45页 |
| ·半导体存储器软失效(故障)的分析 | 第45-46页 |
| ·半导体存储器的故障模型 | 第46-50页 |
| 第4章 半导体存储器测试算法的研究 | 第50-94页 |
| ·测试算法的故障覆盖几率的定义 | 第50-51页 |
| ·常用测试算法故障覆盖几率的计算 | 第51-92页 |
| ·全位“1”和全位“0”的分析 | 第52-56页 |
| ·检验板法的分析 | 第56-77页 |
| ·齐步法的分析 | 第77-81页 |
| ·跳步法的分析 | 第81-84页 |
| ·乒乓法的分析 | 第84-86页 |
| ·走步法的分析 | 第86-89页 |
| ·移动对角线法的分析 | 第89-92页 |
| ·本章小节 | 第92-94页 |
| 第5章 基于知识诊断的概念体系 | 第94-103页 |
| ·基于知识的诊断概述 | 第94-95页 |
| ·诊断推理的概念体系 | 第95-99页 |
| ·诊断对象性质与分类 | 第95-96页 |
| ·诊断问题的基本概念 | 第96-98页 |
| ·系统故障的分类 | 第98-99页 |
| ·诊断问题的形式化定义 | 第99页 |
| ·基于知识诊断推理策略 | 第99-103页 |
| 第6章 KBSM_Diag诊断系统的实现 | 第103-120页 |
| ·半导体存储器故障诊断的基本内容、过程与特点 | 第103-104页 |
| ·半导体存储器故障诊断的基本内容与过程 | 第103-104页 |
| ·半导体存储器故障诊断的特点 | 第104页 |
| ·KBSM_Diag半导体存储器故障诊断推理策略 | 第104-110页 |
| ·KBSM_Diag诊断系统模型的描述 | 第110-113页 |
| ·KBSM_Diag诊断系统模型的概述 | 第110-111页 |
| ·任务管理模块(TM)的实现 | 第111-113页 |
| ·KBSM_Diag诊断系统的功能 | 第113-114页 |
| ·KBSM_Diag诊断系统的系统设计 | 第114-115页 |
| ·运行过程 | 第115页 |
| ·诊断结果 | 第115-116页 |
| ·本章小结 | 第116-120页 |
| 第7章 结束语 | 第120-122页 |
| ·本文的主要工作 | 第120-121页 |
| ·今后的工作 | 第121-122页 |
| 参考文献 | 第122-130页 |
| 作者简历及攻读博士期间已发表文章 | 第130页 |