从TTCN-3到可执行测试例生成技术的研究与改进
摘要 | 第1-8页 |
Abstract | 第8-12页 |
第一章 绪论 | 第12-20页 |
·研究背景 | 第12-15页 |
·本论文研究工作的背景 | 第12-14页 |
·国内外研究现状 | 第14-15页 |
·TTCN-3 Compiler V.1问题分析 | 第15-17页 |
·本论文反映的主要研究工作 | 第17-18页 |
·论文的组织结构 | 第18-20页 |
第二章 同步与可执行生成技术的改进 | 第20-43页 |
·同步控制机制 | 第20-27页 |
·多端口并发测试系统中的同步问题 | 第20-23页 |
·基于同步点的同步处理机制 | 第23-26页 |
·同步点插入的实现 | 第26-27页 |
·可执行生成数据结构的优化 | 第27-34页 |
·符号表的优化处理 | 第27-32页 |
·抽象语法树的优化处理 | 第32-34页 |
·特殊语法的处理 | 第34-43页 |
·选择行为语句 | 第34-37页 |
·日志语义 | 第37-39页 |
·模板翻译与匹配机制 | 第39-43页 |
第三章 适配器的设计与实现 | 第43-58页 |
·前言 | 第43-45页 |
·系统适配器接口设计 | 第45-53页 |
·平台适配器接口设计 | 第53-55页 |
·一个简单的一致性测试实现 | 第55-58页 |
第四章 性能测试扩展及其可执行处理 | 第58-68页 |
·前言 | 第58-59页 |
·数据流模型的扩展及其处理 | 第59-62页 |
·定时器的扩展及其处理 | 第62-64页 |
·测试判决的扩展及其处理 | 第64-66页 |
·度量标准的扩展及其处理 | 第66-68页 |
第五章 测试实验与分析 | 第68-79页 |
·测试实验设计 | 第68-71页 |
·RIP协议介绍 | 第68-69页 |
·时延测试介绍 | 第69-71页 |
·测试系统配置 | 第71-72页 |
·测试过程及现象 | 第72-77页 |
·时延测试过程及现象 | 第72-74页 |
·同步点功能测试过程及现象 | 第74-77页 |
·测试结果分析 | 第77-79页 |
总结与展望 | 第79-80页 |
致谢 | 第80-81页 |
参考文献 | 第81-85页 |
附录 | 第85-87页 |
攻读学位期间发表的论文 | 第87页 |