电子标签天线的研究与设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·本选题的背景及意义 | 第8页 |
| ·RFID天线研究状况 | 第8-11页 |
| ·RFID系统概况 | 第11-12页 |
| ·RFID系统的组成 | 第11页 |
| ·RFID系统的工作原理 | 第11-12页 |
| ·本文的研究内容及组织架构 | 第12-14页 |
| 第二章 电磁场和天线基本理论 | 第14-22页 |
| ·电磁场基础 | 第14-15页 |
| ·麦克斯韦方程 | 第14页 |
| ·坡印廷矢量 | 第14-15页 |
| ·天线基本理论 | 第15-21页 |
| ·天线的辐射场 | 第15-17页 |
| ·天线的阻抗 反射系数 回波损耗 带宽和品质因数 | 第17-18页 |
| ·天线的极化 | 第18-20页 |
| ·Friis传输公式和雷达截面积(RCS) | 第20-21页 |
| ·小结 | 第21-22页 |
| 第三章 电子标签工作原理及阻抗匹配 | 第22-36页 |
| ·电子标签概述 | 第22-24页 |
| ·电子标签分类及原理 | 第22-23页 |
| ·无源RFID系统的工作原理 | 第23-24页 |
| ·电子标签性能分析 | 第24-29页 |
| ·前向链路(R→T)通信 | 第24-27页 |
| ·后向链路(T→R)通信 | 第27-29页 |
| ·电子标签阻抗,带宽和品质因数之间的关系 | 第29-34页 |
| ·电子标签电路分析 | 第29-30页 |
| ·匹配驻波比带宽 | 第30-32页 |
| ·电子标签的品质因数 | 第32-33页 |
| ·品质因数和带宽的关系讨论 | 第33-34页 |
| ·导体与天线性能的关系 | 第34-35页 |
| ·小结 | 第35-36页 |
| 第四章 基于欧几里德几何标签天线的设计 | 第36-52页 |
| ·电子标签天线设计 | 第36-39页 |
| ·电子标签设计要求 | 第36页 |
| ·电子标签天线设计的匹配技术 | 第36-38页 |
| ·电子标签的尺寸缩减技术 | 第38-39页 |
| ·基于弯折技术的电子标签研究与设计 | 第39-43页 |
| ·弯折技术的研究 | 第39-42页 |
| ·设计与应用 | 第42-43页 |
| ·基于耦合技术的电子标签研究与设计 | 第43-50页 |
| ·普通的感应耦合模型 | 第43-45页 |
| ·变形的感应耦合模型 | 第45-50页 |
| ·小结 | 第50-52页 |
| 第五章 基于分形几何的电子标签天线设计 | 第52-68页 |
| ·分形几何及分形天线概述 | 第52-55页 |
| ·分形的初识 | 第52-53页 |
| ·分形维数 | 第53页 |
| ·分形的IFS实现 | 第53-54页 |
| ·分形天线 | 第54-55页 |
| ·基于Hilbert分形几何电子标签天线设计 | 第55-60页 |
| ·Hilbert分形迭代原理 | 第55页 |
| ·天线性能分析 | 第55-60页 |
| ·基于Koch分形几何的电子标签天线设计 | 第60-64页 |
| ·Koch分形迭代原理 | 第60-61页 |
| ·天线性能分析 | 第61-64页 |
| ·基于Koch曲线的V形阵子天线设计 | 第64-67页 |
| ·V形天线概述 | 第64-65页 |
| ·V形阵子天线性能分析 | 第65-67页 |
| ·小结 | 第67-68页 |
| 第六章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76-78页 |
| 附录A | 第78-79页 |
