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锡烯在不同拓扑绝缘体衬底上的生长机理和电子结构特性的第一性原理计算研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
1 绪论第17-33页
    1.1 引言第17页
    1.2 二维材料的简单介绍第17-27页
        1.2.1 基于第四主族元素的二维材料第17-21页
        1.2.2 基于第三主族元素的二维材料第21-22页
        1.2.3 基于第五主族元素的二维材料第22-25页
        1.2.4 基于第六主族元素的二维材料第25-26页
        1.2.5 过渡金属二元化合物第26-27页
    1.3 锡烯的简单介绍第27-29页
    1.4 二维材料的制备方法第29-30页
        1.4.1 机械剥离法第29页
        1.4.2 物理气相沉积法第29-30页
        1.4.3 化学气相沉积法第30页
    1.5 拓扑绝缘体简介第30-31页
        1.5.1 二维拓扑绝缘体第30-31页
        1.5.2 三维拓扑绝缘体第31页
    1.6 本论文研究的主要内容第31-33页
2 理论与方法第33-45页
    2.1 第一性原理从头算的方法第33页
    2.2 密度泛函理论第33-38页
        2.2.1 多电子体系的薛定谔方程第34页
        2.2.2 绝热近似第34-35页
        2.2.3 哈特里—福克(Hartree-Fock)近似第35-36页
        2.2.4 Hohenberg-Kohn(HK)定理第36-37页
        2.2.5 Kohn-Sham定理第37-38页
    2.3 交换—关联泛函第38-40页
        2.3.1 局域密度近似第38-40页
        2.3.2 广义梯度近似第40页
    2.4 平面波基组和赝势第40页
    2.5 范德瓦尔斯修正第40-41页
    2.6 自旋轨道耦合效应第41-42页
    2.7 计算软件和细节第42-43页
        2.7.1 VASP第42页
        2.7.2 寻找过渡态的办法第42-43页
        2.7.3 其他软件第43页
    2.8 本章小结第43-45页
3 三维拓扑绝缘体Bi_2Te_3(111)表面上锡烯生长机制和调控规律的理论计算研究第45-67页
    3.1 引言第46-47页
    3.2 计算方法第47-49页
    3.3 结果和讨论第49-65页
        3.3.1 锡烯在Te-Bi_2Te_3(111)衬底表面的生长机制第49-56页
        3.3.2 锡烯在Bi-Bi_2Te_3(111)衬底表面的生长机制第56-59页
        3.3.3 锡烯在不同衬底表面的不同生长机制的物理根源第59-60页
        3.3.4 衬底效应对单层锡烯的电子结构特性的影响第60-65页
    3.4 本章小结第65-67页
4 二维拓扑绝缘体Bi(111)表面上锡烯生长机制和调控规律的理论计算研究第67-80页
    4.1 引言第68-69页
    4.2 计算细节第69-70页
    4.3 结果和讨论第70-79页
        4.3.1 单个Sn原子在Bi(111)衬底表面的稳定吸附第70-71页
        4.3.2 两个Sn原子在Bi(111)衬底表面的相互作用第71-73页
        4.3.3 单层锡烯在Bi(111)衬底表面的稳定构型第73-74页
        4.3.4 多层(N≥2)锡烯在Bi(111)衬底表面的生长规律第74-76页
        4.3.5 SOC效应对Bi(111)衬底表面上单层至多层锡烯性质的调控第76-79页
    4.4 本章小结第79-80页
5 氢钝化对锡烯在不同衬底表面结构稳定性和电子性能的影响第80-92页
    5.1 引言第80-81页
    5.2 计算模型细节第81-82页
    5.3 结果和讨论第82-91页
        5.3.1 锡烯在PbTe(111)衬底表面的成核机制第82-84页
        5.3.2 单层锡烯在PbTe(111)衬底表面的稳定构型:H钝化效应第84-85页
        5.3.3 单层锡烯在Bi_2Te_3(111)和Bi(111)衬底表面的稳定构型:H钝化效应第85-87页
        5.3.4 单层锡烯在三种不同衬底表面上稳定构型的电子结构:H钝化效应第87-91页
    5.4 本章小结第91-92页
6 总结和展望第92-95页
    6.1 总结第92-93页
    6.2 展望第93-95页
参考文献第95-108页
在学期间发表的学术论文和研究成果第108-109页
致谢第109-110页

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