| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| abstract | 第9页 |
| 第1章 绪论 | 第14-20页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第14-16页 |
| 1.1.1 PUF的发展背景与应用 | 第14-15页 |
| 1.1.2 研究目的及意义 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16-18页 |
| 1.2.1 物理不可克隆函数的研究现状 | 第16-17页 |
| 1.2.2 PUF可靠性提高方法研究现状 | 第17-18页 |
| 1.3 本文的研究内容和组织结构 | 第18-20页 |
| 1.3.1 本文的研究内容 | 第18页 |
| 1.3.2 本文的组织结构 | 第18-20页 |
| 第2章 物理不可克隆函数及可靠性研究 | 第20-31页 |
| 2.1 PUF的工作原理 | 第20-21页 |
| 2.2 PUF的分类及实现方法 | 第21-23页 |
| 2.2.1 “非电”PUF、“电”PUF以及“硅”PUF | 第21-22页 |
| 2.2.2 强PUF和弱PUF | 第22-23页 |
| 2.2.3 基于延时的PUF和基于存储的PUF | 第23页 |
| 2.3 PUF的结构介绍 | 第23-27页 |
| 2.3.1 SRAMPUF | 第23-24页 |
| 2.3.2 ROPUF | 第24-25页 |
| 2.3.3 仲裁器PUF | 第25-26页 |
| 2.3.4 锁存器PUF | 第26页 |
| 2.3.5 蝴蝶PUF | 第26-27页 |
| 2.4 PUF应用 | 第27-29页 |
| 2.4.1 设备认证 | 第27-29页 |
| 2.4.2 密钥生成 | 第29页 |
| 2.5 PUF综述 | 第29-31页 |
| 2.5.1 PUF优缺点综述 | 第29-30页 |
| 2.5.2 PUF可靠性问题 | 第30-31页 |
| 第3章 ROPUF的设计与实现 | 第31-41页 |
| 3.1 FPGA发展历程 | 第31-32页 |
| 3.2 ROPUF基本介绍 | 第32-33页 |
| 3.2.1 实验平台简介 | 第32页 |
| 3.2.2 环形振荡器 | 第32页 |
| 3.2.3 基于环形振荡器的PUF | 第32-33页 |
| 3.3 ROPUF性能指标 | 第33-35页 |
| 3.3.1 唯一性 | 第33-34页 |
| 3.3.2 可靠性 | 第34-35页 |
| 3.4 ROPUF的设计和实现 | 第35-38页 |
| 3.4.1 RO的基本结构特性 | 第35-36页 |
| 3.4.2 ROHardMcro的制作 | 第36-38页 |
| 3.5 ROPUF周围逻辑设计 | 第38-41页 |
| 3.5.1 简单周围逻辑电路设计 | 第38-39页 |
| 3.5.2 复杂周围逻辑电路设计 | 第39-41页 |
| 第4章 实验结果与分析 | 第41-48页 |
| 4.1 ROPUF在FPGA上的实验测试 | 第41-42页 |
| 4.1.1 RO频率分析的意义 | 第41页 |
| 4.1.2 周围逻辑对RO频率的影响 | 第41-42页 |
| 4.1.3 舍弃不可靠的slice | 第42页 |
| 4.2 性能分析 | 第42-46页 |
| 4.2.1 唯一性 | 第42-43页 |
| 4.2.2 可靠性 | 第43-45页 |
| 4.2.3 随机性 | 第45-46页 |
| 4.3 外界因素影响测试 | 第46-47页 |
| 4.4 ROPUF与经典PUF响应的比较 | 第47-48页 |
| 第5章 总结和展望 | 第48-50页 |
| 5.1 全文总结 | 第48-49页 |
| 5.2 研究工作展望 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-55页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第55-56页 |