| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 创新点摘要 | 第7-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 课题研究的工程背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 圆筒形容器常用无损检测方法 | 第11-13页 |
| 1.3 漏磁检测技术的研究现状 | 第13-16页 |
| 1.3.1 漏磁检测技术在国外的发展和现状 | 第13-14页 |
| 1.3.2 漏磁检测技术在国内的发展和现状 | 第14-16页 |
| 1.4 本课题的主要研究内容 | 第16-18页 |
| 第二章 圆筒形容器漏磁检测技术的理论分析 | 第18-31页 |
| 2.1 圆筒形容器漏磁检测原理 | 第18页 |
| 2.2 磁场问题求解的基本方法 | 第18-21页 |
| 2.2.1 解析法 | 第18-21页 |
| 2.2.2 数值计算方法 | 第21页 |
| 2.3 圆筒形容器漏磁检测的影响因素 | 第21-24页 |
| 2.3.1 磁化程度 | 第21-22页 |
| 2.3.2 缺陷特征 | 第22页 |
| 2.3.3 被测圆筒形容器特性 | 第22-23页 |
| 2.3.4 其他影响因素 | 第23-24页 |
| 2.4 圆筒形容器内壁漏磁检测磁化结构设计 | 第24-30页 |
| 2.4.1 励磁方法和磁性材料选择 | 第24页 |
| 2.4.2 磁化结构设计 | 第24-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 圆筒形容器内壁漏磁检测有限元分析 | 第31-54页 |
| 3.1 有限元方法在漏磁检测中的应用 | 第31-33页 |
| 3.1.1 有限元法的优越性 | 第31页 |
| 3.1.2 有限元分析的基本步骤 | 第31-32页 |
| 3.1.3 ANSYS在磁场分析中的应用 | 第32-33页 |
| 3.2 圆筒形容器缺陷漏磁场三维有限元分析 | 第33-37页 |
| 3.2.1 有限元仿真模型的建立 | 第33页 |
| 3.2.2 选择合适的单元 | 第33-34页 |
| 3.2.3 定义材料属性 | 第34-35页 |
| 3.2.4 求解域离散化（网格划分） | 第35页 |
| 3.2.5 加载和边界条件定义 | 第35-36页 |
| 3.2.6 求解及后处理 | 第36-37页 |
| 3.3 基于有限元仿真的圆筒缺陷漏磁信号的影响因素分析 | 第37-53页 |
| 3.3.1 圆筒形容器半径的影响 | 第37-40页 |
| 3.3.2 圆筒形容器缺陷尺寸对漏磁信号的影响 | 第40-44页 |
| 3.3.3 圆筒形容器缺陷分布对漏磁信号的影响 | 第44-49页 |
| 3.3.4 圆筒形容器缺陷形状对漏磁信号的影响 | 第49-50页 |
| 3.3.5 腐蚀产物存在对漏磁信号的影响 | 第50-53页 |
| 3.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 第四章 圆筒形容器内壁漏磁检测系统设计与实验研究 | 第54-65页 |
| 4.1 圆筒形容器内壁漏磁检测系统设计 | 第54-58页 |
| 4.1.1 检测系统总体设计 | 第54页 |
| 4.1.2 励磁装置设计 | 第54页 |
| 4.1.3 数据采集和信号处理系统设计 | 第54-55页 |
| 4.1.4 软件设计 | 第55-56页 |
| 4.1.5 检测系统的整体结构及主要性能参数 | 第56-58页 |
| 4.2 圆筒缺陷内壁漏磁检测实验室研究 | 第58-59页 |
| 4.2.1 实验方案确定 | 第58页 |
| 4.2.2 实验设备 | 第58-59页 |
| 4.2.3 实验室圆筒缺陷检测实验过程 | 第59页 |
| 4.3 实验室研究的结果分析 | 第59-61页 |
| 4.3.1 不同深度缺陷检测实验结果分析 | 第59-60页 |
| 4.3.2 内、外壁缺陷检测结果分析 | 第60-61页 |
| 4.3.3 腐蚀产物厚度对漏磁信号的影响的结果分析 | 第61页 |
| 4.4 现场实验研究 | 第61-63页 |
| 4.5 本章小结 | 第63-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 发表文章目录 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 详细论文摘要 | 第72-83页 |