弹上电气导通测试系统的开发与应用
摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5-6页 |
1 绪论 | 第10-17页 |
1.1 研究的背景及意义 | 第10-12页 |
1.2 国内外发展现状 | 第12-15页 |
1.3 主要研究内容 | 第15-17页 |
2 总体方案设计 | 第17-32页 |
2.1 测试设备需求分析 | 第18-19页 |
2.1.1 硬件需求分析 | 第18页 |
2.1.2 软件需求分析 | 第18-19页 |
2.2 系统检测原理 | 第19-22页 |
2.2.1 导通电阻测试原理 | 第19页 |
2.2.2 绝缘电阻测量原理 | 第19-21页 |
2.2.3 普通导通检测原理 | 第21页 |
2.2.4 测试产品内部导通测试原理 | 第21-22页 |
2.3 常用检测方法 | 第22-27页 |
2.3.1 电容充电法 | 第23-24页 |
2.3.2 电流电压法 | 第24页 |
2.3.3 电桥法 | 第24-27页 |
2.4 硬件方案设计及主要功能芯片选择 | 第27-30页 |
2.4.1 硬件方案设计 | 第27-29页 |
2.4.2 下位机处理器的选择 | 第29-30页 |
2.5 软件方案设计 | 第30-31页 |
2.6 本章小结 | 第31-32页 |
3 硬件系统设计 | 第32-49页 |
3.1 导通测试箱 | 第33-35页 |
3.2 硬件电路主要特点 | 第35-38页 |
3.2.1 循环测试过程 | 第35-36页 |
3.2.2 拓展性介绍 | 第36-38页 |
3.3 主处理器电路 | 第38-40页 |
3.4 电源供点电路 | 第40-41页 |
3.5 继电器切换电路 | 第41-43页 |
3.6 普通点切换电路切换电路 | 第43-46页 |
3.7 特殊点测量电路 | 第46-47页 |
3.8 串行通讯电路 | 第47-48页 |
3.9 本章小结 | 第48-49页 |
4 系统软件设计 | 第49-64页 |
4.1 软件总体结构 | 第49-51页 |
4.1.1 系统开发环境 | 第49页 |
4.1.2 软件设计流程 | 第49-51页 |
4.2 上位机功能软件 | 第51-54页 |
4.2.1 软件界面介绍 | 第51-53页 |
4.2.2 测试数据的处理 | 第53-54页 |
4.3 下位机功能软件 | 第54-63页 |
4.3.1 导通测试通信协议 | 第54-55页 |
4.3.2 下位机主程序设计 | 第55-58页 |
4.3.3 普通导通检测 | 第58-60页 |
4.3.4 特殊通道测试 | 第60-63页 |
4.4 本章小结 | 第63-64页 |
5 导通系统测试结果 | 第64-73页 |
5.1 硬件电路调试 | 第64-69页 |
5.1.1 普通点导通测试 | 第65-66页 |
5.1.2 特殊点导通测试 | 第66-68页 |
5.1.3 特殊点测试误差分析 | 第68-69页 |
5.2 软件系统测试 | 第69-73页 |
5.2.1 导通测试系统整体测试 | 第69-72页 |
5.2.2 导通测试报警设置 | 第72-73页 |
5.3 本章小结 | 第73页 |
6 总结与展望 | 第73-76页 |
参考文献 | 第76-80页 |
致谢 | 第80-81页 |