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面向微结构阵列的超精密切削加工与测量关键技术研究

致谢第5-7页
摘要第7-9页
Abstract第9-11页
1 绪论第15-36页
    摘要第15页
    1.1 研究背景第15-19页
    1.2 基于快刀伺服的超精密切削加工技术第19-23页
    1.3 金刚石刀具几何形状的精密测量技术第23-27页
        1.3.1 金刚石刀具的扫描探针测量方法第24-25页
        1.3.2 金刚石刀具的光学测量方法第25-26页
        1.3.3 扫描电子显微镜和其它方法第26-27页
    1.4 微结构表面三维形貌的超精密测量技术第27-32页
        1.4.1 大面积扫描探针显微镜测量方法第27-29页
        1.4.2 机械接触式探针轮廓仪扫描方法第29-30页
        1.4.3 大面积三维微纳形貌的光学测量方法第30-32页
    1.5 论文的研究意义及研究内容第32-35页
        1.5.1 论文的来源及研究意义第32-33页
        1.5.2 研究内容及相互间的关系第33-35页
    1.6 本章小结第35-36页
2 大尺寸微结构阵列的换刀拼接加工技术第36-68页
    摘要第36页
    2.1 引言第36-38页
    2.2 集成力传感器的FTS第38-40页
    2.3 微透镜阵列的超精密切削实验第40-46页
        2.3.1 辊筒模具微透镜阵列的加工方法第40-42页
        2.3.2 微透镜阵列的切削加工实验第42-46页
    2.4 微结构阵列的换刀拼接加工方法第46-49页
    2.5 基于FS-FTS的刀具定位基本性能测试第49-56页
        2.5.1 刀具定位的控制系统第49-51页
        2.5.2 刀具尖端-工件表面接触检测第51-52页
        2.5.3 刀具定位准确度测量实验第52-56页
    2.6 微结构阵列的换刀拼接加工第56-66页
        2.6.1 拼接加工实验条件第56-57页
        2.6.2 行列拼接加工实验研究第57-60页
        2.6.3 面积拼接加工实验研究第60-64页
        2.6.4 填充拼接加工实验研究第64-66页
    2.7 本章小结第66-68页
3 微结构表面微缺陷的在线检测和修复技术第68-93页
    摘要第68页
    3.1 引言第68-70页
    3.2 微缺陷在线检测及修复方法第70-73页
    3.3 实验条件第73-74页
    3.4 切削力测量和形貌定征基本性能测试第74-81页
        3.4.1 力传感器的校正第74-75页
        3.4.2 切削力模型第75-77页
        3.4.3 切削力测量实验第77-78页
        3.4.4 接触力测量实验第78-80页
        3.4.5 微结构形貌定征实验第80-81页
    3.5 微结构单元缺陷的修复加工第81-84页
        3.5.1 单次修复第82-83页
        3.5.2 多次修复第83-84页
    3.6 微结构阵列缺陷的在线检测与修复第84-89页
        3.6.1 微结构缺陷的在线检测第84-87页
        3.6.2 微结构缺陷的修复加工第87-89页
    3.7 刀具尖端扫描测量时对表面的破损程度研究第89-92页
    3.8 本章小结第92-93页
4 金刚石刀具切削刃轮廓的在机原位测量技术第93-120页
    摘要第93页
    4.1 引言第93-95页
    4.2 金刚石刀具切削刃轮廓原位测量方法第95-97页
    4.3 系统及实验平台第97-99页
    4.4 使用铝材质参考刃结构的测量第99-109页
        4.4.1 参考刃阵列结构的加工第99-101页
        4.4.2 基本性能测试第101-103页
        4.4.3 金刚石刀具轮廓测量第103-105页
        4.4.4 测量结果的分析与讨论第105-109页
    4.5 使用金刚石纳米参考刃结构的测量第109-118页
        4.5.1 实现方法及系统装置第109-111页
        4.5.2 参考刃尖端曲率半径定征第111-112页
        4.5.3 刀具尖端-参考刃尖端的接触检测第112页
        4.5.4 金刚石刀具切削刃轮廓测量第112-116页
        4.5.5 金刚石刀具磨损的原位定征第116-118页
    4.6 本章小结第118-120页
5 微结构表面三维形貌的扫描探针测量技术第120-147页
    摘要第120页
    5.1 引言第120-122页
    5.2 高长-径比扫描探针的电化学研磨制备技术第122-133页
        5.2.1 电化学研磨探针制备方法第123-124页
        5.2.2 系统构建及断电控制策略第124-127页
        5.2.3 扫描探针制备过程参数的优化第127-131页
        5.2.4 高长-径扫描探针的可控制备第131-133页
    5.3 大面积扫描隧道显微测量系统第133-138页
        5.3.1 扫描隧道显微测量系统结构第133-135页
        5.3.2 扫描隧道显微测量控制系统第135-136页
        5.3.3 大面积扫描隧道显微测量装置基本性能测试第136-138页
    5.4 大面积微结构阵列表面三维形貌精密测量第138-145页
        5.4.1 扫描平面的倾斜校正第138-140页
        5.4.2 双正弦结构表面三维形貌的精密测量实验第140-143页
        5.4.3 双正弦结构表面三维形貌测量结果分析第143-145页
    5.5 本章小结第145-147页
6 总结与展望第147-153页
    6.1 论文总结第147-150页
    6.2 论文创新点第150-151页
    6.3 研究展望第151-153页
参考文献第153-163页
作者简历及攻读博士学位期间的成果第163-165页

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