深亚微米下SET故障模拟技术的研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第13-18页 |
| 1.0 研究背景 | 第13-14页 |
| 1.1 国内外研究现状 | 第14-15页 |
| 1.2 研究内容 | 第15-16页 |
| 1.3 论文结构 | 第16-18页 |
| 第二章单粒子瞬态脉冲效应的理论概述 | 第18-28页 |
| 2.1 空间辐射环境 | 第18-20页 |
| 2.1.1 地球磁场俘获带辐射粒子 | 第19页 |
| 2.1.2 太阳宇宙线 | 第19-20页 |
| 2.1.3 银河宇宙线 | 第20页 |
| 2.2 单粒子瞬态脉冲效应的基本原理 | 第20-22页 |
| 2.3 单粒子瞬态脉冲在组合电路中的传播过程分析 | 第22-25页 |
| 2.3.1 逻辑掩蔽效应 | 第23页 |
| 2.3.2 电气掩蔽效应 | 第23-24页 |
| 2.3.3 锁存窗口掩蔽效应 | 第24-25页 |
| 2.3.4 脉冲展宽效应 | 第25页 |
| 2.4 单粒子瞬态脉冲效应的故障模拟方法 | 第25-27页 |
| 2.4.1 计算软错误率的评估方法 | 第26页 |
| 2.4.2 基于门级的电路级模拟 | 第26-27页 |
| 2.5 本章总结 | 第27-28页 |
| 第三章 SET硬件模拟系统原理及模型的建立 | 第28-44页 |
| 3.1 SET硬件模拟原理 | 第29-34页 |
| 3.1.1 SDF标准延时格式文件 | 第29-30页 |
| 3.1.2 SDF反标原理 | 第30-32页 |
| 3.1.3 硬件模拟实现原理 | 第32-34页 |
| 3.2 电路级硬件模型 | 第34-43页 |
| 3.2.1 Pulse模型 | 第34-35页 |
| 3.2.2 改进型的脉冲注入模型 | 第35-37页 |
| 3.2.3 量化延时模型 | 第37-43页 |
| 3.3 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 SET软件模拟系统及硬件模拟系统的搭建 | 第44-76页 |
| 4.1 SET软件模拟系统的搭建 | 第44-63页 |
| 4.1.1 待测电路 | 第45-51页 |
| 4.1.2 系统控制模块 | 第51-55页 |
| 4.1.3 测试向量表的产生 | 第55-56页 |
| 4.1.4 结果比较及错误次数统计 | 第56-58页 |
| 4.1.5 在VCS软件平台上进行软件仿真 | 第58-62页 |
| 4.1.6 软件模拟平台的自动化模拟流程 | 第62-63页 |
| 4.2 SET硬件模拟系统的搭建 | 第63-75页 |
| 4.2.1 待测电路模块的修改 | 第64-67页 |
| 4.2.2 系统控制部分 | 第67-70页 |
| 4.2.3 错误次数统计及串口部分 | 第70-71页 |
| 4.2.4 在FPGA硬件平台上进行模拟 | 第71-75页 |
| 4.3 本章小结 | 第75-76页 |
| 第五章 SET故障模拟结果分析 | 第76-83页 |
| 5.1 软件模拟系统故障模拟结果分析 | 第76-78页 |
| 5.2 硬件模拟系统故障模拟结果分析 | 第78-81页 |
| 5.3 关键路径上逻辑门的故障模拟结果分析 | 第81-82页 |
| 5.4 本章小结 | 第82-83页 |
| 第六章总结与展望 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-90页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第90-91页 |
