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旋转磁场对布里奇曼法GAINSB晶体生长过程的影响

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第一章 前言第10-30页
    1.1 选题背景及研究意义第10-11页
    1.2 半导体材料的发展第11-13页
        1.2.1 元素半导体第11-12页
        1.2.2 化合物半导体第12-13页
        1.2.3 化合物半导体发展趋势与展望第13页
    1.3 GaInSb晶体简介第13-20页
        1.3.1 GaSb晶体简介及其局限性第14-15页
        1.3.2 In的掺入对GaSb晶体结构和性能的影响第15-17页
        1.3.3 GaInSb晶体的发展现状第17-20页
        1.3.4 GaInSb晶体的制备难点第20页
    1.4 电磁场在晶体生长过程中的应用第20-22页
        1.4.1 电磁场的作用原理第21页
        1.4.2 静磁场的应用第21-22页
        1.4.3 动态磁场的应用第22页
    1.5 晶体材料的主要生长工艺第22-27页
        1.5.1 布里奇曼法(Bridgman)第23-25页
        1.5.2 区熔-移动加热器法第25-27页
        1.5.3 提拉法(Czochralski,Cz)第27页
    1.6 本章小结第27-30页
        1.6.1 本论文的研究目的第28页
        1.6.2 本论文的研究内容第28-30页
第二章 实验方案及测试方法第30-44页
    2.1 实验原料和设备第30-32页
        2.1.1 实验原料第30页
        2.1.2 实验设备第30-31页
        2.1.3 石英管的选择第31-32页
    2.2 GaInSb晶体生长第32-40页
        2.2.1 装料和封管第32-33页
        2.2.2 GaInSb多晶料的合成第33-35页
        2.2.3 GaInSb晶体的生长第35-37页
        2.2.4 GaInSb晶锭样品处理第37-40页
    2.3 表征第40-42页
        2.3.1 X-射线衍射仪(XRD)第40页
        2.3.2 扫描电子显微镜(SEM/EDS)第40-41页
        2.3.3 金相显微镜第41页
        2.3.4 拉曼光谱仪第41页
        2.3.5 霍尔效应测试系统第41-42页
        2.3.6 傅里叶红外光谱仪(FTIR)第42页
        2.3.7 维氏硬度仪第42页
    2.4 本章小结第42-44页
第三章 旋转磁场以及旋转频率对GaInSb晶体组织和性能的影响第44-58页
    3.1 旋转磁场以及旋转频率对晶体显微结构的影响第45-48页
        3.1.1 晶体结晶程度第45-47页
        3.1.2 晶体生长界面第47-48页
    3.2 旋转磁场以及旋转频率对晶体成分分布的影响第48-50页
        3.2.1 In组份偏析第48-50页
        3.2.2 晶体杂质分布第50页
    3.3 旋转磁场以及旋转频率对晶体组织缺陷的影响第50-53页
        3.3.1 位错密度第51-52页
        3.3.2 孪晶及微裂纹第52-53页
    3.4 旋转磁场以及旋转频率对晶体物理性能的影响第53-55页
        3.4.1 电学性能第53-54页
        3.4.2 维氏硬度第54-55页
    3.5 本章小结第55-58页
第四章 磁场强度对GaInSb晶体组织和性能的影响第58-70页
    4.1 磁场强度对晶体显微结构的影响第58-60页
        4.1.1 晶体结晶程度第58-60页
        4.1.2 晶体生长界面第60页
    4.2 磁场强度对晶体In组份偏析的影响第60-62页
        4.2.1 In组份分布第61-62页
    4.3 磁场强度对晶体组织缺陷的影响第62-64页
        4.3.1 位错密度第62-63页
        4.3.2 拉曼光谱分析第63-64页
    4.4 磁场强度对晶体物理性能的影响第64-67页
        4.4.1 电学性能第64-65页
        4.4.2 红外透过率第65-66页
        4.4.3 维氏硬度第66-67页
    4.5 本章小结第67-70页
第五章 总结与展望第70-72页
参考文献第72-78页
发表论文和参加科研情况第78-80页
致谢第80页

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