摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-9页 |
绪论 | 第13-19页 |
§0.1 课题来源与意义 | 第13页 |
§0.2 微波毫米波成像技术的研究现状 | 第13-15页 |
§0.3 论文的研究目标和主要内容 | 第15-17页 |
[参考文献] | 第17-19页 |
第一章 微波毫米波成像基本原理 | 第19-29页 |
§1.1. 物体辐射的基本原理 | 第19-21页 |
§1.2. 微波毫米波成像的系统原理 | 第21-25页 |
§1.2.1. 主要指标参数 | 第21-22页 |
§1.2.1.1. 空间分辨率 | 第21-22页 |
§1.2.1.2. 温度灵敏度 | 第22页 |
§1.2.2. 相控阵微波毫米波成像的原理与架构 | 第22-24页 |
§1.2.3. 数字多波束毫米波成像的原理与架构 | 第24-25页 |
§1.3. 本章小结 | 第25-26页 |
[参考文献] | 第26-29页 |
第二章 微波毫米波相控阵成像系统中移相技术的研究 | 第29-38页 |
§2.1. 阵列微波毫米波成像中移相方案的设计 | 第29-31页 |
§2.2. 相控阵微波毫米波成像中波束扫描特性研究 | 第31-32页 |
§2.3. 相控阵微波毫米波成像中基于DDS的移相方案研究 | 第32-35页 |
§2.4. 本章小结 | 第35-36页 |
[参考文献] | 第36-38页 |
第三章 基于基片集成波导的毫米波互连结构技术研究 | 第38-52页 |
§3.1. 基于基片集成波导的毫米波互连结构 | 第38-39页 |
§3.2. 基于基片集成波导的毫米波互连结构分析 | 第39-42页 |
§3.3. 基于基片集成波导的毫米波互连结构仿真与测试 | 第42-44页 |
§3.4. 本章小结 | 第44-46页 |
[参考文献] | 第46-52页 |
第四章 基于基片集成波导的毫米波芯片新型引线键合技术 | 第52-67页 |
§4.1. 基于基片集成波导的引线键合结构 | 第52-54页 |
§4.2. 基于基片集成波导的引线键合结构性能分析 | 第54-56页 |
§4.3. 基于基片集成波导的无源与有源引线键合结构测试 | 第56-62页 |
§4.4. 本章小结 | 第62-63页 |
[参考文献] | 第63-67页 |
第五章 基于相控阵体制的Ku频段被动微波成像系统研究 | 第67-86页 |
§5.1. 研究背景 | 第67页 |
§5.2. 系统指标与架构 | 第67-69页 |
§5.3. 系统设计 | 第69-76页 |
§5.3.1. 天线阵列的设计 | 第69-70页 |
§5.3.2. 射频通道设计 | 第70-74页 |
§5.3.3. 本振电路设计 | 第74-75页 |
§5.3.4. 中频电路设计 | 第75-76页 |
§5.4. 系统测试与被动微波成像结果 | 第76-83页 |
§5.4.1. 相控阵天线阵列波束扫描结果 | 第76-77页 |
§5.4.2. 系统成像测试结果 | 第77-83页 |
§5.4.2.1. 成像系统平台与系统指标 | 第77-78页 |
§5.4.2.2. 不同波束扫描密度的配置下的成像效果 | 第78-80页 |
§5.4.2.3. 有遮挡物时的成像效果 | 第80-82页 |
§5.4.2.4. 对隐匿物体的成像 | 第82-83页 |
§5.5. 本章小结 | 第83-84页 |
[参考文献] | 第84-86页 |
第六章 基于数字多波束的E波段毫米波成像系统研究 | 第86-115页 |
§6.1. 研究背景 | 第86-87页 |
§6.2. 系统架构 | 第87-88页 |
§6.3. 系统设计 | 第88-107页 |
§6.3.1. 天线阵列的设计 | 第89-91页 |
§6.3.2. 射频通道设计 | 第91-100页 |
§6.3.2.1. 天线与射频通道的连接 | 第92-93页 |
§6.3.2.2. 射频通道电路与芯片引线键合设计 | 第93-98页 |
§6.3.2.2.1. 芯片引线键合补偿电路设计 | 第94-95页 |
§6.3.2.2.2. 芯片引线键合操作误差对电路性能的影响研究 | 第95-98页 |
§6.3.2.3. 本振电路的设计 | 第98-100页 |
§6.3.3. 中频电路的设计 | 第100-101页 |
§6.3.4. 校准算法的设计与实现 | 第101-103页 |
§6.3.5. 数字波束形成算法的设计与实现 | 第103-104页 |
§6.3.6. 数字多波束毫米波成像中基于频率捷变的等效带宽扩展技术 | 第104-107页 |
§6.4. 系统测试 | 第107-112页 |
§6.4.1. 天线与射频通道测试结果 | 第108-109页 |
§6.4.2. 天线阵列波束扫描测试 | 第109-110页 |
§6.4.3. 成像测试结果 | 第110-112页 |
§6.5. 本章小结 | 第112-113页 |
[参考文献] | 第113-115页 |
结论与展望 | 第115-117页 |
作者简介 | 第117-120页 |
致谢 | 第120-121页 |