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基于二维材料碳化硅及硅烯纳米带的热自旋输运性质的研究

摘要第4-6页
ABSTRACT第6-7页
1 绪论第10-17页
    1.1 热自旋电子学的产生背景第10-12页
    1.2 热自旋电子学的发展现状及前景第12-13页
    1.3 自旋塞贝克效应第13-16页
    1.4 本文主要研究内容第16-17页
2 基于锯齿型SIC纳米带异质结的热自旋过滤、温控开关及负微分电阻效应第17-30页
    2.1 SIC纳米带的研究背景第17-19页
    2.2 器件模型和计算方法第19-20页
    2.3 热自旋过滤效应及负微分电阻效应第20-29页
    2.4 本章小结第29-30页
3 基于锯齿型硅烯纳米带异质结热自旋电流的热电输运性质的研究第30-51页
    3.1 硅稀的研究背景第30-31页
    3.2 计算方法和参数设定第31-32页
    3.3 基于异质结(N-ZSINR-H)/(N-ZSINR-H2)完美的自旋塞贝克效应第32-35页
    3.4 自旋塞贝克效应出现的物理机制第35-38页
    3.5 基于异质结(N-ZSINR-H)/(N-ZSINR-H2)的奇偶效应第38-40页
    3.6 基于硅烯纳米带异质结的总电荷流和总自旋流的研究第40-42页
    3.7 基于硅烯纳米带异质结 4-ZSINRS异质结的热巨磁阻性质研究第42-44页
    3.8 基于 5-ZSINRS异质结热电输运的门压调节第44-48页
    3.9 基于(5-ZSINR-H)/(5-ZSINR-H2)异质结的自旋塞贝克二极管效应第48-49页
    3.10本章小结第49-51页
4 全文总结和展望第51-53页
    4.1 全文总结第51-52页
    4.2 下一步的工作和展望第52-53页
致谢第53-54页
参考文献第54-62页
附录1攻读硕士学位期间已发表或正在评审的学术论文第62页

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