| 前言 | 第5-8页 |
| 第一章 半导体激光器的电噪声概述 | 第8-16页 |
| 1.1 引言 | 第8页 |
| 1.2 电噪声 | 第8-15页 |
| 1.2.1 电噪声的种类 | 第9-13页 |
| 1.2.2 电噪声的应用 | 第13-15页 |
| 1.3 本论文的主要工作 | 第15-16页 |
| 第二章 半导体激光器噪声测量 | 第16-23页 |
| 2.1 噪声的测量方法 | 第16-18页 |
| 2.1.1 直接测量法 | 第16-17页 |
| 2.1.2 互谱测量法 | 第17-18页 |
| 2.2 噪声测试系统 | 第18-23页 |
| 2.2.1 测试系统的硬件构成 | 第18-19页 |
| 2.2.2 测试系统中的抗干扰技术 | 第19-23页 |
| 第三章 噪声用于半导体激光器可靠性评价和筛选 | 第23-40页 |
| 3.1 半导体激光器的可靠性 | 第23-27页 |
| 3.1.1 半导体激光器的可靠性概述 | 第23页 |
| 3.1.2 半导体激光器可靠性的研究方法 | 第23-27页 |
| 3.2 噪声与器件质量和可靠性的相关性研究 | 第27-39页 |
| 3.2.1 半导体高功率量子阱激光器退火后的电噪声 | 第27-31页 |
| 3.2.2 加速老化电流条件下的电噪声 | 第31-39页 |
| 3.3 小结 | 第39-40页 |
| 第四章 小波分析在可靠性评价中的应用 | 第40-50页 |
| 4.1 小波分析概述 | 第40-41页 |
| 4.2 小波分析的基本理论 | 第41-44页 |
| 4.2.1 连续小波变换 | 第41-42页 |
| 4.2.2 离散小波变换 | 第42-44页 |
| 4.3 小波变换用于器件中的1/f噪声的提取 | 第44-46页 |
| 4.3.1 引言 | 第44页 |
| 4.3.2 理论分析 | 第44-45页 |
| 4.3.3 实验结果 | 第45-46页 |
| 4.4 用小波变换分析器件前后的电噪声 | 第46-49页 |
| 4.5 小结 | 第49-50页 |
| 第五章 双极晶体管的1/f噪声 | 第50-59页 |
| 5.1 双极晶体管的表面1/f噪声 | 第50-52页 |
| 5.2 位错1/f噪声 | 第52页 |
| 5.3 控制界面态减少表明可动电荷降低晶体管的电噪声 | 第52-58页 |
| 5.3.1 引言 | 第52-58页 |
| 5.4 小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 中文摘要 | 第67-70页 |
| 英文摘要 | 第70页 |