极端条件下的电阻和比热测量及其在强关联电子材料中的应用
| 致谢 | 第6-7页 |
| 摘要 | 第7-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第12-43页 |
| 1.1 强关联电子体系简介 | 第12-15页 |
| 1.2 压力效应在关联电子材料中的研究概述 | 第15-30页 |
| 1.2.1 压力效应在重费米子体系中的研究 | 第15-24页 |
| 1.2.2 压力效应在超导材料中的研究 | 第24-30页 |
| 1.3 固体比热 | 第30-41页 |
| 1.3.1 比热基本理论 | 第31-36页 |
| 1.3.2 重费米子的比热 | 第36-38页 |
| 1.3.3 超导体的比热 | 第38-41页 |
| 1.4 本文的组织结构和创新点 | 第41-43页 |
| 第二章 实验方法 | 第43-96页 |
| 2.1 极端条件的实现 | 第43-51页 |
| 2.1.1 低温的获取 | 第43-45页 |
| 2.1.2 高压的实现 | 第45-50页 |
| 2.1.3 磁场的获取 | 第50-51页 |
| 2.2 温度计校准 | 第51-62页 |
| 2.2.1 低温温度计概述 | 第52-54页 |
| 2.2.2 温度计磁场下的校准 | 第54-56页 |
| 2.2.3 无封装温度计校准 | 第56-60页 |
| 2.2.4 稀释制冷机下温度计校准 | 第60-62页 |
| 2.3 电阻测量方法 | 第62-67页 |
| 2.3.1 四引线法测电阻 | 第63-64页 |
| 2.3.2 直流法测电阻 | 第64页 |
| 2.3.3 交流法测电阻 | 第64-67页 |
| 2.4 低温比热测量方法 | 第67-86页 |
| 2.4.1 比热测量方法概述 | 第67页 |
| 2.4.2 非绝热法比热测量原理 | 第67-73页 |
| 2.4.3 比热测量装置 | 第73-81页 |
| 2.4.4 比热测量装置的低温调试和应用 | 第81-86页 |
| 2.5 压力下比热测量 | 第86-94页 |
| 2.5.1 压力下比热测量方法 | 第86-90页 |
| 2.5.2 调试与可靠性验证 | 第90-94页 |
| 2.6 转角比热测量 | 第94页 |
| 2.7 本章小结 | 第94-96页 |
| 第三章 Cd掺杂CeIrI_5压力下的研究 | 第96-113页 |
| 3.1 引言 | 第96-98页 |
| 3.2 样品的制备和表征 | 第98-99页 |
| 3.3 实验结果 | 第99-104页 |
| 3.3.1 压力下的电阻和比热测量 | 第99-101页 |
| 3.3.2 压力下的上临界磁场测量 | 第101-104页 |
| 3.4 结果分析与讨论 | 第104-111页 |
| 3.5 本章小结 | 第111-113页 |
| 第四章 Ce_2Pd0In_8转角比热的研究 | 第113-118页 |
| 4.1 引言 | 第113-114页 |
| 4.2 样品的制备与表征 | 第114-116页 |
| 4.3 实验结果与讨论 | 第116-118页 |
| 第五章 EuBiS_2F压力下的研究 | 第118-128页 |
| 5.1 引言 | 第118-119页 |
| 5.2 样品的制备和表征 | 第119-120页 |
| 5.3 实验结果 | 第120-125页 |
| 5.3.1 EuBiS_2F压力下的电阻 | 第120-124页 |
| 5.3.2 EuBiS_2F压力下X射线衍射结果 | 第124-125页 |
| 5.4 分析与讨论 | 第125-127页 |
| 5.5 本章小结 | 第127-128页 |
| 第六章 总结与展望 | 第128-130页 |
| 附录 铅的超导转变温度与压力对应表 | 第130-132页 |
| 参考文献 | 第132-143页 |
| 攻读博博士学位期间发表的文章列表 | 第143页 |
