| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7页 |
| 第1章 绪论 | 第13-19页 |
| 1.1 引言 | 第13-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-16页 |
| 1.3 本文主要研究内容及结构安排 | 第16-19页 |
| 1.3.1 主要研究内容 | 第16-17页 |
| 1.3.2 本文主要的结构安排 | 第17-19页 |
| 第2章 基于显微视觉的压电陶瓷驱动特性测试系统 | 第19-25页 |
| 2.1 压电陶瓷材料的驱动原理 | 第19-20页 |
| 2.2 压电陶瓷驱动特性及其测试方法 | 第20-21页 |
| 2.2.1 压电陶瓷驱动特性 | 第20-21页 |
| 2.2.2 计算机视觉测试方法 | 第21页 |
| 2.3 计算机视觉在非接触测量中应用 | 第21-22页 |
| 2.4 典型基于视觉测试系统的组成 | 第22-23页 |
| 2.5 基于显微视觉的压电陶瓷驱动特性测试系统描述 | 第23-24页 |
| 2.6 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 基于亚像素的压电陶瓷驱动特性测试 | 第25-35页 |
| 3.1 Harris角点检测 | 第25-28页 |
| 3.1.1 角点检测基本原理 | 第25-27页 |
| 3.1.2 Harris角点特征提取及匹配 | 第27-28页 |
| 3.2 图像块匹配方法的基本原理 | 第28-30页 |
| 3.2.1 数字图像匹配基本步骤 | 第28页 |
| 3.2.2 模板匹配搜索区域的选择 | 第28-29页 |
| 3.2.3 模板匹配函数选择 | 第29-30页 |
| 3.3 二元拉格朗日插值 | 第30-31页 |
| 3.4 Newton-Raphso迭代算法 | 第31-32页 |
| 3.5 多项式拟合压电陶瓷特性曲线 | 第32-33页 |
| 3.6 实验结果验证 | 第33-34页 |
| 3.7 本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 压电陶瓷驱动特性的分数阶模型描述 | 第35-49页 |
| 4.1 压电陶瓷驱动特性分析 | 第35页 |
| 4.2 分数阶微积分理论及现状 | 第35-36页 |
| 4.3 分数阶微积分的定义及性质 | 第36-37页 |
| 4.3.1 Grundald-Letnikov(G-L)分数阶微积分定义 | 第36页 |
| 4.3.2 Riemann-Liouville分数阶微积分定义 | 第36-37页 |
| 4.3.3 Caputo分数阶微积分定义 | 第37页 |
| 4.3.4 分数阶微积分的性质 | 第37页 |
| 4.4 分数阶微积分数的Laplace变换 | 第37-39页 |
| 4.4.1 Laplace变换的定义与性质 | 第38页 |
| 4.4.2 分数阶微积分中的Laplace变换 | 第38-39页 |
| 4.5 G-L定义的分数阶微积分数值解 | 第39-41页 |
| 4.5.1 分数阶微积分数值解仿真验证 | 第40-41页 |
| 4.5.2 压电陶瓷驱动器线性分数阶模型描述及数值解 | 第41页 |
| 4.6 压电陶瓷驱动器分数阶模型辨识 | 第41-46页 |
| 4.6.1 分数阶模型系统辨识步骤 | 第42页 |
| 4.6.2 随机数直接搜索算法辨识 | 第42-44页 |
| 4.6.3 粒子群算法辨识 | 第44-45页 |
| 4.6.4 两种辨识模型的输出验证 | 第45-46页 |
| 4.7 压电陶瓷分数阶模型的验证 | 第46-48页 |
| 4.8 本章小结 | 第48-49页 |
| 第5章 压电陶瓷驱动器非线性特性校正 | 第49-59页 |
| 5.1 压电陶瓷的逐点校正方法 | 第49-51页 |
| 5.1.1 逐点校正原理 | 第49页 |
| 5.1.2 逐点校正的测量方法 | 第49-50页 |
| 5.1.3 逐点校正方法的验证 | 第50-51页 |
| 5.2 分数阶PID控制器 | 第51-55页 |
| 5.2.1 分数阶PID控制器参数整定 | 第52-53页 |
| 5.2.2 分数阶PID控制效果验证 | 第53-55页 |
| 5.3 分数阶逆模型控制器设计 | 第55-58页 |
| 5.3.1 逆模型分数阶控制器参数选定 | 第56页 |
| 5.3.2 逆模型分数阶控制效果验证 | 第56-58页 |
| 5.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 附录Ⅰ 压电陶瓷驱动特性测量与校正程序清单 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 攻读硕士期间发表（含录用）的学术论文 | 第65页 |
