安全仪表系统及其SIL评估技术在歧化装置中的应用
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 课题背景及意义 | 第10-12页 |
| 1.2.1 课题背景 | 第10-11页 |
| 1.2.2 课题意义 | 第11-12页 |
| 1.3 课题内容 | 第12页 |
| 1.4 本文组织结构 | 第12-14页 |
| 第2章 SIS与功能安全 | 第14-28页 |
| 2.1 安全仪表系统概念 | 第14-16页 |
| 2.2 SIS与BPCS | 第16-18页 |
| 2.3 SIS的功能安全 | 第18-23页 |
| 2.3.1 安全生命周期 | 第18-19页 |
| 2.3.2 安全完整性水平 | 第19-20页 |
| 2.3.3 危险与风险 | 第20-21页 |
| 2.3.4 风险降低与SIL的关系 | 第21-23页 |
| 2.4 安全仪表系统的功能安全设计 | 第23-25页 |
| 2.4.1 硬件功能安全设计 | 第23页 |
| 2.4.2 软件功能安全设计 | 第23-25页 |
| 2.5 安全仪表系统的设计原则 | 第25-26页 |
| 2.5.1 基本原则 | 第25页 |
| 2.5.2 逻辑设计原则 | 第25页 |
| 2.5.3 回路配置原则 | 第25-26页 |
| 2.6 安全仪表系统的设计步骤 | 第26页 |
| 2.7 本章小结 | 第26-28页 |
| 第3章 SIS的SIL评估技术 | 第28-45页 |
| 3.1 SIL评估技术 | 第28-29页 |
| 3.2 系统结构 | 第29-31页 |
| 3.2.1 1oo1结构 | 第29-30页 |
| 3.2.2 1oo2结构 | 第30页 |
| 3.2.3 2oo2结构 | 第30-31页 |
| 3.2.4 2oo3结构 | 第31页 |
| 3.3 SIL评估方法 | 第31-35页 |
| 3.4 SIL的故障树计算方法 | 第35-37页 |
| 3.4.1 1oo1结构的PFD故障树 | 第35-36页 |
| 3.4.2 1oo2结构的PFD故障树 | 第36页 |
| 3.4.3 2oo2结构的PFD故障树 | 第36-37页 |
| 3.4.4 2oo3结构的PFD故障树 | 第37页 |
| 3.5 SIL的可靠性框图计算方法 | 第37-39页 |
| 3.5.1 1oo1结构的可靠性框图 | 第38页 |
| 3.5.2 1oo2结构的可靠性框图 | 第38页 |
| 3.5.3 2oo2结构的可靠性框图 | 第38-39页 |
| 3.5.4 2oo3结构的可靠性框图 | 第39页 |
| 3.6 SIL的Markov建模计算方法 | 第39-44页 |
| 3.6.1 1oo1结构的Markov模型 | 第41-42页 |
| 3.6.2 1oo2结构的Markov模型 | 第42页 |
| 3.6.3 2oo2结构的Markov模型 | 第42-43页 |
| 3.6.4 2oo3结构的Markov模型 | 第43-44页 |
| 3.7 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 歧化装置的SIS设置及其SIL评估 | 第45-60页 |
| 4.1 歧化反应工艺流程 | 第45-47页 |
| 4.2 歧化装置的SIS配置 | 第47-50页 |
| 4.2.1 歧化装置中的SIS | 第47-48页 |
| 4.2.2 SIS系统硬件组成 | 第48-49页 |
| 4.2.3 SIS系统现场配置 | 第49-50页 |
| 4.3 歧化装置的功能安全评估 | 第50-54页 |
| 4.3.1 危险与可操作性分析 | 第50-51页 |
| 4.3.2 歧化装置的HAZOP分析 | 第51-54页 |
| 4.4 歧化装置SIF的SIL评估 | 第54-59页 |
| 4.4.1 SIF1的SIL评估 | 第55-57页 |
| 4.4.2 SIF2的SIL评估 | 第57页 |
| 4.4.3 SIF3的SIL评估 | 第57-58页 |
| 4.4.4 SIL评估结论 | 第58-59页 |
| 4.5 本章小结 | 第59-60页 |
| 第5章 Markov可靠性建模方法的改进研究 | 第60-69页 |
| 5.1 Markov模型的改进 | 第60-64页 |
| 5.1.1 1oo1D结构的Markov模型 | 第60-62页 |
| 5.1.2 2oo2D结构的Markov模型 | 第62-64页 |
| 5.2 改进模型的验证 | 第64-65页 |
| 5.2.1 1oo1D结构的计算结果 | 第64页 |
| 5.2.2 2oo2D结构的计算结果 | 第64页 |
| 5.2.3 计算结果分析 | 第64-65页 |
| 5.3 改进模型在歧化装置上的应用 | 第65-68页 |
| 5.3.1 改进模型在歧化反应器SIF上的应用 | 第65-67页 |
| 5.3.2 改进模型在SIF1上的应用 | 第67-68页 |
| 5.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 第6章 总结与展望 | 第69-70页 |
| 6.1 总结 | 第69页 |
| 6.2 展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 作者在攻读硕士期间发表的论文 | 第75页 |
