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TAPD敏捷研发平台缺陷管理子系统的设计与实现

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第8-15页
    1.1 课题背景及研究的目的和意义第8-9页
        1.1.1 课题来源第8页
        1.1.2 目的和意义第8-9页
    1.2 与本课题有关的国内外研究状况第9-13页
        1.2.1 敏捷开发的发展过程和研究现状第9-12页
        1.2.2 软件风险与缺陷管理第12-13页
    1.3 本课题研究的主要内容第13-15页
第2章 TAPD 缺陷管理子系统需求与相关技术第15-23页
    2.1 TAPD 业务分析第15-16页
    2.2 需求分析第16-21页
        2.2.1 TAPD 平台第16-18页
        2.2.2 TAPD 缺陷管理子系统第18-21页
    2.3 关键技术第21-22页
    2.4 本章小结第22-23页
第3章 TAPD 缺陷管理子系统的设计第23-38页
    3.1 缺陷管理子系统总体设计方案第23-24页
    3.2 缺陷管理子系统子模块设计第24-35页
        3.2.1 缺陷概览和缺陷列表第24-27页
        3.2.2 缺陷查询第27-29页
        3.2.3 缺陷统计第29-30页
        3.2.4 测试用例和测试计划第30-33页
        3.2.5 缺陷工作流第33-35页
    3.3 系统部署第35-36页
    3.4 数据库设计与数据处理要点第36-37页
    3.5 本章小结第37-38页
第4章 TAPD 缺陷管理子系统的实现第38-54页
    4.1 缺陷概览和缺陷列表第38-43页
    4.2 缺陷查询第43-46页
    4.3 缺陷统计第46-47页
    4.4 测试用例和测试计划第47-53页
    4.5 缺陷工作流第53页
    4.6 本章小结第53-54页
第5章 TAPD 缺陷管理子系统的测试第54-66页
    5.1 测试目标和测试方法第54页
    5.2 功能测试第54-64页
    5.3 性能分析第64-65页
    5.4 本章小结第65-66页
结论第66-68页
参考文献第68-72页
致谢第72-73页
个人简历第73页

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