| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第13-24页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第13-14页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第13-14页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第14页 |
| 1.2 国内外研究现状与存在的问题 | 第14-20页 |
| 1.2.1 国内外研究现状 | 第14-20页 |
| 1.2.2 存在的问题 | 第20页 |
| 1.3 研究内容、技术路线与论文组织 | 第20-24页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第20-21页 |
| 1.3.2 技术路线 | 第21-23页 |
| 1.3.3 论文组织 | 第23-24页 |
| 第2章 研究基础 | 第24-35页 |
| 2.1 数字水印技术概述 | 第24-28页 |
| 2.1.1 鲁棒水印技术 | 第24-25页 |
| 2.1.2 脆弱水印技术 | 第25-27页 |
| 2.1.3 脆弱水印与鲁棒水印 | 第27-28页 |
| 2.2 脆弱水印系统的基本框架 | 第28-30页 |
| 2.2.1 脆弱水印生成模块 | 第28-29页 |
| 2.2.2 脆弱水印嵌入模块 | 第29页 |
| 2.2.3 脆弱水印攻击模块 | 第29-30页 |
| 2.2.4 脆弱水印检测/提取模块 | 第30页 |
| 2.3 DEM及其水印特征分析 | 第30-32页 |
| 2.3.1 DEM数据模型与数据组织 | 第30-31页 |
| 2.3.2 DEM及其水印特征分析 | 第31-32页 |
| 2.4 DEM脆弱水印评价指标 | 第32-34页 |
| 2.5 本章小结 | 第34-35页 |
| 第3章 基于数字水印技术的地理数据篡改责任认定方法 | 第35-46页 |
| 3.1 问题分析 | 第35-38页 |
| 3.1.1 问题的提出 | 第35-36页 |
| 3.1.2 解决思路 | 第36-37页 |
| 3.1.3 解决方案 | 第37-38页 |
| 3.2 一种通用的地理数据篡改责任认定数字水印模型 | 第38-41页 |
| 3.2.1 水印嵌入子模型 | 第39-40页 |
| 3.2.2 水印检测子模型 | 第40-41页 |
| 3.3 责任认定方法的关键技术 | 第41-45页 |
| 3.3.1 顾及地形特征的DEM完整性认证脆弱水印算法 | 第42页 |
| 3.3.2 基于防重复嵌入双水印的DEM完整性认证算法 | 第42-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 顾及地形特征的DEM完整性认证脆弱水印算法 | 第46-60页 |
| 4.1 水印预处理分析 | 第46-48页 |
| 4.1.1 脆弱水印信息与嵌入位置选取 | 第46-47页 |
| 4.1.2 脆弱水印信息生成方法 | 第47页 |
| 4.1.3 脆弱水印信息嵌入方法 | 第47-48页 |
| 4.2 基于脆弱水印的DEM完整性认证算法 | 第48-52页 |
| 4.2.1 算法原理 | 第48页 |
| 4.2.2 水印生成及嵌入 | 第48-51页 |
| 4.2.3 水印检测与完整性认证 | 第51-52页 |
| 4.2.4 算法说明和讨论 | 第52页 |
| 4.3 实验与分析 | 第52-59页 |
| 4.3.1 认证准确性分析 | 第52-56页 |
| 4.3.2 水印嵌入失真分析 | 第56-59页 |
| 4.3.3 算法安全性与适用性分析 | 第59页 |
| 4.4 本章小结 | 第59-60页 |
| 第5章 基于防重复嵌入双水印的DEM完整性认证算法 | 第60-79页 |
| 5.1 算法原理 | 第60-61页 |
| 5.2 水印生成及嵌入 | 第61-64页 |
| 5.2.1 鲁棒水印的生成与嵌入 | 第62-64页 |
| 5.2.2 脆弱水印的生成与嵌入 | 第64页 |
| 5.3 水印检测与完整性认证 | 第64-67页 |
| 5.3.1 鲁棒水印检测 | 第65-66页 |
| 5.3.2 脆弱水印检测与完整性认证 | 第66-67页 |
| 5.4 实验与分析 | 第67-74页 |
| 5.4.1 完整性认证实验 | 第67-73页 |
| 5.4.2 防重复嵌入实验 | 第73-74页 |
| 5.5 责任认定与结果分析 | 第74-77页 |
| 5.5.1 无责任纠纷 | 第75页 |
| 5.5.2 产生责任纠纷 | 第75-77页 |
| 5.6 本章小结 | 第77-79页 |
| 第6章 结论 | 第79-81页 |
| 6.1 研究总结 | 第79-80页 |
| 6.2 主要创新点 | 第80页 |
| 6.3 研究展望 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-87页 |
| 在读期间研究成果 | 第87-88页 |
| 致谢 | 第88页 |
