| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 引言 | 第12-16页 |
| 第2章 粒子探测器简介及原理 | 第16-20页 |
| 2.1 固体探测器 | 第16-17页 |
| 2.1.1 半导体探测器 | 第16页 |
| 2.1.2 闪烁探测器 | 第16-17页 |
| 2.2 液体探测器 | 第17页 |
| 2.3 气体探测器 | 第17-19页 |
| 2.3.1 气体探测器的基本原理 | 第17-18页 |
| 2.3.2 被收集的离子对数与外加电场的关系 | 第18-19页 |
| 2.4 本章小结 | 第19-20页 |
| 第3章 THGEM探测器的研究及应用 | 第20-40页 |
| 3.1 THGEM探测器的发展 | 第20-21页 |
| 3.2 THGEM探测器结构与工作原理 | 第21-24页 |
| 3.2.1 THGEM结构 | 第21-22页 |
| 3.2.2 工作原理 | 第22页 |
| 3.2.3 THGEM探测器与实验装置 | 第22-23页 |
| 3.2.4 电子学系统刻度 | 第23-24页 |
| 3.3 四种不同基材THGEM的性能测试 | 第24-32页 |
| 3.3.1 陶瓷基材THGEM测试 | 第24-26页 |
| 3.3.2 PTFE基材THGEM测试 | 第26-28页 |
| 3.3.3 Kapton基材THGEM测试 | 第28-30页 |
| 3.3.4 FR4基材THGEM测试 | 第30-32页 |
| 3.4 激光打孔THGEM的性能测试 | 第32-34页 |
| 3.4.1 增益 | 第32-33页 |
| 3.4.2 长期稳定性 | 第33-34页 |
| 3.4.3 能量分辨率 | 第34页 |
| 3.5 THGEM探测器的应用 | 第34-37页 |
| 3.5.1 中子探测 | 第34-36页 |
| 3.5.2 低本底探测 | 第36-37页 |
| 3.5.3 闭气式 α、γ、β 探测器 | 第37页 |
| 3.5.4 位置灵敏型探测器 | 第37页 |
| 3.6 本章小结 | 第37-40页 |
| 第4章 基于陶瓷基材THGEM的热中子探测 | 第40-50页 |
| 4.1 介绍 | 第40页 |
| 4.2 Geant4模拟 | 第40-45页 |
| 4.2.1 散射模拟 | 第41-43页 |
| 4.2.2 探测效率和位置分辨模拟 | 第43-44页 |
| 4.2.3 γ 射线的排斥比 | 第44-45页 |
| 4.3 放射性测量 | 第45页 |
| 4.4 THGEM性能测试 | 第45-49页 |
| 4.4.1 实验建立 | 第46页 |
| 4.4.2 陶瓷THGEM与FR-4 THGEM的增益比较 | 第46-47页 |
| 4.4.3 α 响应 | 第47-49页 |
| 4.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 第5章 基于THGEM的二维位置探测器研究 | 第50-66页 |
| 5.1 介绍 | 第50页 |
| 5.2 探测器模拟优化 | 第50-54页 |
| 5.2.1 Geant4模拟 | 第50-54页 |
| 5.2.2 Garfield模拟结果 | 第54页 |
| 5.3 THGEM的性能测试 | 第54-57页 |
| 5.3.1 测试方法 | 第54-55页 |
| 5.3.2 增益 | 第55页 |
| 5.3.3 能量分辨 | 第55-56页 |
| 5.3.4 稳定性 | 第56-57页 |
| 5.4 二维位置探测器研究 | 第57-64页 |
| 5.4.1 二维位置探测器结构 | 第57-58页 |
| 5.4.2 读出板设计 | 第58-59页 |
| 5.4.3 ASIC测试 | 第59-60页 |
| 5.4.4 X、Y Pad读出测量 | 第60-63页 |
| 5.4.5 二维位置探测器的位置分辨 | 第63-64页 |
| 5.5 本章小结 | 第64-66页 |
| 第6章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 6.1 论文工作总结 | 第66-67页 |
| 6.2 今后工作展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 发表文章目录 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |