| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第7-10页 |
| 1.1 研究背景 | 第7-8页 |
| 1.2 存在的问题 | 第8页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第8-9页 |
| 1.4 本文内容及创新点 | 第9页 |
| 1.5 论文内容安排 | 第9-10页 |
| 第二章 高可靠电路处理系统需求分析 | 第10-21页 |
| 2.1 军用计算机的特点及要求 | 第10-12页 |
| 2.2 民品不能满足军用系统要求 | 第12-14页 |
| 2.3 可靠性研究的重要意义 | 第14-17页 |
| 2.4 高可靠性设计的必要性 | 第17页 |
| 2.5 可靠性设计程序 | 第17-21页 |
| 第三章 高可靠性电路的设计 | 第21-48页 |
| 3.1 高可靠性电路设计原则 | 第21-25页 |
| 3.2 应用电路设计系统方案 | 第25-35页 |
| 3.2.1 系统组成 | 第25-26页 |
| 3.2.2 技术参数和设计方案 | 第26-27页 |
| 3.2.3 硬件设计举例-DDR2 SDRAM设计 | 第27-35页 |
| 3.3 应用电路整体实现 | 第35-48页 |
| 3.3.1 元器件选型与筛选 | 第35-38页 |
| 3.3.2 电路优化设计 | 第38-40页 |
| 3.3.3 PCB制板优化设计 | 第40-43页 |
| 3.3.4 结构可靠性保障设计 | 第43-46页 |
| 3.3.5 工艺可靠性设计 | 第46-48页 |
| 第四章 系统实现效果 | 第48-55页 |
| 4.1 系统测试与评价 | 第48-52页 |
| 4.1.1 上电时序测试 | 第48-49页 |
| 4.1.2 功能性能测试 | 第49-52页 |
| 4.2 可靠性验证 | 第52-54页 |
| 4.2.1 工艺、结构设计 | 第52-53页 |
| 4.2.2 试验验证 | 第53-54页 |
| 4.3 评价 | 第54-55页 |
| 第五章 结论与展望 | 第55-56页 |
| 5.1 结论 | 第55页 |
| 5.2 展望 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |