| 摘要 | 第3-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-22页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11页 |
| 1.2 电子废弃物的特征 | 第11-12页 |
| 1.3 贵金属的分离富集方法 | 第12-16页 |
| 1.3.1 热处理技术 | 第12-14页 |
| 1.3.2 湿法冶金处理 | 第14页 |
| 1.3.3 萃取法 | 第14-15页 |
| 1.3.4 生物冶金技术 | 第15页 |
| 1.3.5 小结 | 第15-16页 |
| 1.4 贵金属的定量分析方法 | 第16-19页 |
| 1.4.1 滴定法 | 第16页 |
| 1.4.2 原子吸收分光光度法 | 第16-17页 |
| 1.4.3 原子吸收光谱法 | 第17页 |
| 1.4.4 原子发射光谱法 | 第17-18页 |
| 1.4.5 电化学法 | 第18页 |
| 1.4.6 原子荧光光谱分析法 | 第18-19页 |
| 1.5 目前国内外对定量分析方法的研究进展和不足 | 第19-20页 |
| 1.6 不确定度的研究进展 | 第20页 |
| 1.7 本课题技术路线及研究内容 | 第20-22页 |
| 1.7.1 技术路线 | 第20-21页 |
| 1.7.2 实验内容 | 第21-22页 |
| 第二章 废旧电路板预处理方法的对比 | 第22-45页 |
| 2.1 印刷电路板材料组成 | 第22-23页 |
| 2.2 物理前处理方法 | 第23-28页 |
| 2.2.1 热裂解法处理 | 第23-24页 |
| 2.2.2 机械法处理 | 第24-28页 |
| 2.3 研究取样方法对测定结果的影响 | 第28-30页 |
| 2.3.1 实验材料 | 第28页 |
| 2.3.2 实验试剂及仪器 | 第28-29页 |
| 2.3.3 实验方法 | 第29-30页 |
| 2.3.4 实验结果与分析 | 第30页 |
| 2.4 不同部件以及不同粒径样品中贵金属含量的差异 | 第30-33页 |
| 2.4.1 实验材料 | 第30页 |
| 2.4.2 实验试剂及仪器 | 第30-31页 |
| 2.4.3 实验方法 | 第31页 |
| 2.4.4 实验结果 | 第31-32页 |
| 2.4.5 小结 | 第32-33页 |
| 2.5 电路板化学前处理方法 | 第33-45页 |
| 2.5.1 王水浸取法 | 第33-37页 |
| 2.5.2 硫代硫酸盐浸取贵金属 | 第37-41页 |
| 2.5.3 碘化钾法浸取贵金属 | 第41-44页 |
| 2.5.4 小结 | 第44-45页 |
| 第三章 ICP-AES法和AAS法测定结果的对比 | 第45-50页 |
| 3.1 ICP-AES法测定金属元素 | 第45-46页 |
| 3.1.1 实验试剂及设备 | 第45页 |
| 3.1.2 实验原理 | 第45页 |
| 3.1.3 实验方法 | 第45-46页 |
| 3.1.4 待测样品 | 第46页 |
| 3.1.5 实验结果与讨论 | 第46页 |
| 3.2 AAS法测定金属元素 | 第46-49页 |
| 3.2.1 实验试剂及设备 | 第46-47页 |
| 3.2.2 试验原理 | 第47页 |
| 3.2.3 试验方法 | 第47-48页 |
| 3.2.4 实验结果与讨论 | 第48-49页 |
| 3.3 小结 | 第49-50页 |
| 第四章 ICP-AES测定电子废弃物中金含量的不确定度评定 | 第50-56页 |
| 4.1 试验部分 | 第50-51页 |
| 4.1.1 仪器与试剂 | 第50页 |
| 4.1.2 仪器工作条件 | 第50页 |
| 4.1.3 试验方法 | 第50-51页 |
| 4.1.4 数学模型 | 第51页 |
| 4.2 不确定度来源分析 | 第51页 |
| 4.3 测量不确定度各分量计算 | 第51-54页 |
| 4.3.1 样品质量的相对标准不确定度 | 第51-52页 |
| 4.3.2 标准溶液浓度值不确定度引起的输入量的相对标准不确定度 | 第52页 |
| 4.3.3 样品定容体积相对标准不确定度 | 第52-53页 |
| 4.3.4 测试不重复性的相对标准不确定度 | 第53-54页 |
| 4.4 合成相对标准不确定度的计算 | 第54页 |
| 4.5 扩展不确定度 | 第54页 |
| 4.6 本章小结 | 第54-56页 |
| 第五章 结论与建议 | 第56-58页 |
| 5.1 结论 | 第56-57页 |
| 5.2 建议 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-63页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
