基于CMOS探测器的高光谱成像采集技术研究
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 高光谱成像技术的应用背景 | 第10-12页 |
| 1.1.1 在环保领域的应用 | 第10-11页 |
| 1.1.2 在农业领域的应用 | 第11页 |
| 1.1.3 灾情监测与损失评估 | 第11-12页 |
| 1.1.4 地质资源调查 | 第12页 |
| 1.2 国内外的发展现状与趋势 | 第12-16页 |
| 1.2.1 国外成像光谱技术的发展 | 第12-15页 |
| 1.2.2 国内成像光谱技术的发展 | 第15-16页 |
| 1.3 课题的研究意义 | 第16-17页 |
| 1.4 课题的研究内容和论文章节安排 | 第17-18页 |
| 第2章 基于CMOS的光谱仪的特点 | 第18-28页 |
| 2.1 CMOS的工作原理及特性 | 第18-23页 |
| 2.1.1 CMOS图像传感器的工作原理 | 第18-21页 |
| 2.1.2 CMOS与CCD的性能对比 | 第21-23页 |
| 2.2 高光谱成像系统的分光原理及特性 | 第23-24页 |
| 2.3 基于CMOS成像系统的性能指标及评估方法 | 第24-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-28页 |
| 第3章 基于CMOS的高光谱成像系统的设计 | 第28-48页 |
| 3.1 样机系统的整体结构 | 第28-29页 |
| 3.2 系统性噪比模型 | 第29-31页 |
| 3.3 EV76C661探测器 | 第31-34页 |
| 3.4 硬件电路的设计 | 第34-46页 |
| 3.4.1 前端CMOS驱动电路板 | 第36-37页 |
| 3.4.2 后端FPGA驱动电路板 | 第37页 |
| 3.4.3 驱动时序设计 | 第37-46页 |
| 3.5 分光系统 | 第46-47页 |
| 3.6 本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 系统性能测试及分析 | 第48-72页 |
| 4.1 系统的成像实验及非均匀校正 | 第48-59页 |
| 4.1.1 系统成像实验 | 第48-54页 |
| 4.1.2 图像的非均匀性校正 | 第54-59页 |
| 4.2 辐射定标及系统噪声评估 | 第59-68页 |
| 4.2.1 评估原理及方法 | 第59-65页 |
| 4.2.2 信噪比计算结果及分析 | 第65-67页 |
| 4.2.3 动态范围计算及结果 | 第67-68页 |
| 4.3 系统比较及优劣分析 | 第68-70页 |
| 4.4 本章小结 | 第70-72页 |
| 第5章 结论与展望 | 第72-74页 |
| 5.1 研究总结 | 第72-73页 |
| 5.2 研究展望 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第76页 |
