| 摘要 | 第19-21页 |
| Abstract | 第21-22页 |
| 1 引言 | 第23-33页 |
| 1.1 标准模型 | 第23-26页 |
| 1.2 D介子物理 | 第26-27页 |
| 1.3 选题背景 | 第27-31页 |
| 1.4 论文结构 | 第31-33页 |
| 2 北京正负电子对撞机和北京谱仪 | 第33-45页 |
| 2.1 北京正负电子对撞机(BEPC Ⅱ) | 第33-34页 |
| 2.2 北京谱仪(BES Ⅲ) | 第34-40页 |
| 2.2.1 BES Ⅲ的物理目标 | 第34页 |
| 2.2.2 BES Ⅲ探测器的总体性能 | 第34-35页 |
| 2.2.3 束流管 | 第35-36页 |
| 2.2.4 主漂移室 | 第36-37页 |
| 2.2.5 飞行时间计数器 | 第37页 |
| 2.2.6 电磁量能器 | 第37-38页 |
| 2.2.7 μ子鉴别器 | 第38页 |
| 2.2.8 超导磁体 | 第38页 |
| 2.2.9 触发判选系统 | 第38-40页 |
| 2.2.10 电子学系统 | 第40页 |
| 2.2.11 在线数据获取系统 | 第40页 |
| 2.3 BES Ⅲ离线软件系统 | 第40-43页 |
| 2.3.1 BES Ⅲ离线数据处理计算环境 | 第40-41页 |
| 2.3.2 BES Ⅲ离线数据框架 | 第41-42页 |
| 2.3.3 BES Ⅲ探测器模拟系统 | 第42页 |
| 2.3.4 BES Ⅲ离线重建系统 | 第42-43页 |
| 2.3.5 BES Ⅲ离线刻度系统 | 第43页 |
| 2.3.6 BES Ⅲ物理分析工具软件 | 第43页 |
| 2.4 本章小结 | 第43-45页 |
| 3 粒子重建及其判选标准 | 第45-51页 |
| 3.1 带电及中性径迹的判选 | 第45-46页 |
| 3.1.1 带电径迹的判选条件 | 第45-46页 |
| 3.1.2 中性径迹的判选条件 | 第46页 |
| 3.2 粒子重建 | 第46-49页 |
| 3.2.1 粒子鉴别 | 第46页 |
| 3.2.2 π~0的重建 | 第46-47页 |
| 3.2.3 K_S~0的重建 | 第47页 |
| 3.2.4 K_L~0的重建 | 第47-49页 |
| 3.3 D介子的重建 | 第49页 |
| 3.4 本章小结 | 第49-51页 |
| 4 衰变道D~+→K_(S,L)~0K~+ (π~0)绝对分支比测量及其CP破坏的寻找 | 第51-105页 |
| 4.1 分析方法 | 第51-52页 |
| 4.2 数据与蒙特卡洛样本 | 第52-53页 |
| 4.3 单标记 | 第53-58页 |
| 4.3.1 事例选择 | 第53-57页 |
| 4.3.2 数据中的单标记产额 | 第57-58页 |
| 4.4 双标记 | 第58-66页 |
| 4.4.1 事例选择 | 第58-63页 |
| 4.4.2 数据中的双标记产额 | 第63-66页 |
| 4.5 K_L~0效率修正 | 第66-70页 |
| 4.6 条件效率 | 第70-73页 |
| 4.7 信号道的分支比 | 第73-74页 |
| 4.8 CP不对称参数的测量 | 第74-81页 |
| 4.8.1 分支比测量方法寻找CP破缺 | 第74-77页 |
| 4.8.2 Dalitz图分区方法寻找CP破缺 | 第77-81页 |
| 4.9 系统误差 | 第81-99页 |
| 4.9.1 K介子的寻迹效率 | 第84页 |
| 4.9.2 K介子的粒子鉴别效率 | 第84页 |
| 4.9.3 π~0的效率 | 第84页 |
| 4.9.4 K_S~0效率修正 | 第84-90页 |
| 4.9.5 K_L~0效率修正 | 第90页 |
| 4.9.6 额外的χ~2条件 | 第90-92页 |
| 4.9.7 共振态子结构 | 第92页 |
| 4.9.8 单标记的M_(BC)拟合 | 第92-93页 |
| 4.9.9 双标记的M_(BC)拟合 | 第93-94页 |
| 4.9.10 双标记中的峰状本底 | 第94-96页 |
| 4.9.11 △E条件 | 第96-99页 |
| 4.10 结果与讨论 | 第99页 |
| 4.10.1 分支比测量 | 第99页 |
| 4.10.2 CP不对称参数的测量 | 第99页 |
| 4.11 正确性检测 | 第99-104页 |
| 4.11.1 分支比测量方法的检测 | 第100页 |
| 4.11.2 △E筛选条件的检测 | 第100-101页 |
| 4.11.3 条件效率的检测 | 第101-104页 |
| 4.12 本章小结 | 第104-105页 |
| 5 衰变道D~+→K_S~0K~+π~0的Dalitz图分析 | 第105-119页 |
| 5.1 事例选择 | 第105-106页 |
| 5.2 拟合方法 | 第106-113页 |
| 5.2.1 概率密度函数 | 第106-108页 |
| 5.2.2 效率参数化 | 第108-109页 |
| 5.2.3 本底参数化 | 第109页 |
| 5.2.4 Dalitz图拟合 | 第109-113页 |
| 5.3 输入输出检查 | 第113页 |
| 5.4 本章小结 | 第113-119页 |
| 6 D介子主要衰变道的△E系统误差研究 | 第119-123页 |
| 6.1 研究方法 | 第119页 |
| 6.2 △E范围要求 | 第119-121页 |
| 6.3 二维拟合 | 第121页 |
| 6.4 本章小结 | 第121-123页 |
| 7 总结与展望 | 第123-125页 |
| 7.1 衰变道D~+K_(S,L)~0K~+(π~0)绝对分支比测量及其CP破坏的寻找 | 第123页 |
| 7.2 衰变道D~+→K_S~0K~+π~0的Dalitz图分析 | 第123页 |
| 7.3 D介子主要衰变道的△E系统误差研究 | 第123-125页 |
| 附录A D~+→K_(S,L)~0K~+(π~0)的双标记二维拟合分布图 | 第125-153页 |
| 参考文献 | 第153-159页 |
| 致谢 | 第159-161页 |
| 发表的论文 | 第161-162页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第162页 |
