基于TEM纳米颗粒的图像识别
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题来源及研究目的意义 | 第9页 |
| ·纳米颗粒识别研究现状 | 第9-12页 |
| ·筛析法 | 第9页 |
| ·激光粒度法 | 第9-10页 |
| ·颗粒沉降法 | 第10页 |
| ·比表面积法 | 第10-11页 |
| ·喇曼散射法 | 第11页 |
| ·X衍射线宽法 | 第11页 |
| ·电超声粒度法 | 第11-12页 |
| ·电阻法 | 第12页 |
| ·电子显微法 | 第12页 |
| ·纳米颗粒图像识别主要内容 | 第12-14页 |
| 第2章 透射电子显微镜 | 第14-18页 |
| ·透射电子显微镜(TEM)的结构及工作原理 | 第14-16页 |
| ·照明系统 | 第14-15页 |
| ·成像系统 | 第15-16页 |
| ·观察记录系统 | 第16页 |
| ·透射电子显微镜(TEM)的成像原理 | 第16页 |
| ·透射电子显微镜(TEM)的应用 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 第3章 纳米颗粒图像背景分割 | 第18-40页 |
| ·颗粒图像背景分割现状 | 第18页 |
| ·图像预处理技术 | 第18-22页 |
| ·邻域平均法 | 第18-19页 |
| ·加权平均值法 | 第19-20页 |
| ·选择式掩膜平滑方法 | 第20-22页 |
| ·中值滤波方法 | 第22页 |
| ·纳米颗粒图像背景分割(二值化处理) | 第22-38页 |
| ·基于最小误差方法阈值分割 | 第23-26页 |
| ·基于最大类间方差方法的阈值分割 | 第26-29页 |
| ·最大熵的阈值分割 | 第29-33页 |
| ·基于最大相关性准则 | 第33-37页 |
| ·算法改进 | 第37-38页 |
| ·孔洞填充 | 第38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 第4章 纳米颗粒图像粘连颗粒分割 | 第40-46页 |
| ·粘连颗粒图像分割的背景现状 | 第40页 |
| ·粘连颗粒分割方法 | 第40-45页 |
| ·分水岭分割算法 | 第41-44页 |
| ·算法实现 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第5章 纳米颗粒参数统计及计数 | 第46-52页 |
| ·颗粒数目、面积统计 | 第46页 |
| ·颗粒周长统计 | 第46-47页 |
| ·圆度统计 | 第47-48页 |
| ·TEM纳米颗粒识别系统实现 | 第48-51页 |
| ·TEM纳米颗粒识别 | 第48-50页 |
| ·TEM纳米颗粒识别系统测试 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第6章 总结与展望 | 第52-54页 |
| ·总结 | 第52页 |
| ·展望 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
