高性能DDS芯片测试系统设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 1 绪论 | 第9-13页 |
| ·课题研究背景及来源 | 第9页 |
| ·DDS 发展及研究现状 | 第9-11页 |
| ·课题研究的意义 | 第11页 |
| ·课题研究的主要内容 | 第11-12页 |
| ·论文结构安排 | 第12-13页 |
| 2 DDS 技术及 DDS 芯片介绍 | 第13-19页 |
| ·DDS 技术 | 第13-16页 |
| ·DDS 基本原理 | 第13-14页 |
| ·DDS 性能分析 | 第14-16页 |
| ·DDS 芯片介绍 | 第16-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 3 测试系统总体设计 | 第19-23页 |
| ·系统功能分析 | 第19页 |
| ·系统总体方案 | 第19-22页 |
| ·硬件结构设计 | 第20-21页 |
| ·软件流程设计 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 4 测试平台设计 | 第23-49页 |
| ·FPGA 核心板设计 | 第23-27页 |
| ·核心板系统结构 | 第23页 |
| ·芯片选型 | 第23-24页 |
| ·各模块电路设计 | 第24-27页 |
| ·电路板设计与调试 | 第27页 |
| ·DDS 芯片测试板设计 | 第27-34页 |
| ·测试板系统结构 | 第27-28页 |
| ·各模块电路设计 | 第28-33页 |
| ·电路板设计与制作 | 第33-34页 |
| ·触摸屏人机交互模块设计 | 第34-41页 |
| ·触摸屏介绍 | 第34-35页 |
| ·触摸屏显示接口模块设计 | 第35-40页 |
| ·触摸屏触摸接口设计 | 第40-41页 |
| ·触摸屏模块设计注意事项 | 第41页 |
| ·Nios Ⅱ 系统设计 | 第41-44页 |
| ·SOPC 系统定制 | 第41-43页 |
| ·锁相环定制 | 第43-44页 |
| ·uC/OS-Ⅱ 的移植和使用 | 第44-47页 |
| ·uC/OS-Ⅱ 操作系统概述 | 第44-46页 |
| ·uC/OS-Ⅱ 在 Nios Ⅱ 中的移植 | 第46-47页 |
| ·uC/OS-Ⅱ 任务设计 | 第47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 5 DDS 芯片测试 | 第49-71页 |
| ·时钟输入模块 | 第49-50页 |
| ·时钟输入模块概述 | 第49页 |
| ·时钟输入模块测试 | 第49-50页 |
| ·串行端口模块 | 第50-54页 |
| ·串行端口概述 | 第50-52页 |
| ·串行端口测试 | 第52-54页 |
| ·单频调制模式 | 第54-58页 |
| ·DDS 芯片内核概述 | 第54-55页 |
| ·单频调制模式测试 | 第55-58页 |
| ·RAM 调制模式 | 第58-64页 |
| ·RAM 调制模式概述 | 第58页 |
| ·RAM 调制模式测试 | 第58-64页 |
| ·并行数据端口模式 | 第64-66页 |
| ·并行数据端口模式概述 | 第64-65页 |
| ·并行数据端口模式测试 | 第65-66页 |
| ·输出特性测试 | 第66-68页 |
| ·频率准确度测试 | 第66-67页 |
| ·幅度频率特性测试 | 第67页 |
| ·杂散测试 | 第67-68页 |
| ·芯片功耗 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-71页 |
| 6 总结与展望 | 第71-73页 |
| ·课题总结 | 第71页 |
| ·下一步研究方向 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 附录 | 第77页 |
| 作者在攻读硕士学位期间参与课题及成果 | 第77页 |
