| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 前言 | 第11-16页 |
| ·选题意义 | 第11页 |
| ·复介电常数的测试方法概述 | 第11-12页 |
| ·谐振法 | 第11-12页 |
| ·网络参数法 | 第12页 |
| ·高 Q 腔国内外研究现状 | 第12-14页 |
| ·本文结构 | 第14-15页 |
| ·本章小结 | 第15-16页 |
| 第二章 TE01p型高 Q 圆柱谐振腔基本理论 | 第16-26页 |
| ·TE01p模场分布 | 第16-19页 |
| ·TE01p型高 Q 腔基本参量 | 第19-21页 |
| ·TE01p型高 Q 腔的谐振频率 f0 | 第19-20页 |
| ·TE01p型高 Q 腔的品质因数 Q0 | 第20-21页 |
| ·高 Q 腔的耦合参量 | 第21-23页 |
| ·一腔多模的模式选择 | 第23页 |
| ·TM11p模对 TE01p模的影响 | 第23-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 18～40GHz TE01p型高 Q 圆柱腔的优化研究 | 第26-56页 |
| ·18～40GHz 圆柱腔主腔尺寸的优化 | 第26-30页 |
| ·活塞的设计 | 第30-31页 |
| ·后腔结构的设计 | 第31页 |
| ·耦合结构的设计 | 第31-32页 |
| ·仿真模型的优化 | 第32-54页 |
| ·仿真软件 | 第32页 |
| ·仿真优化流程 | 第32-34页 |
| ·间隙 G 值的优化 | 第34-35页 |
| ·活塞高度 h1的优化 | 第35-37页 |
| ·吸波材料的优化 | 第37-39页 |
| ·后腔第一级台阶的优化 | 第39-42页 |
| ·后腔第二级台阶的优化 | 第42-47页 |
| ·耦合结构的优化 | 第47-54页 |
| ·测试腔实物结构 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第四章 18～40 GHz 高 Q 腔测试系统 | 第56-62页 |
| ·测试原理 | 第56-59页 |
| ·物理模型 | 第56-57页 |
| ·复介电常数的求解 | 第57-59页 |
| ·搭建测试系统 | 第59-60页 |
| ·高 Q 腔 f0和 Q0的测试 | 第60-61页 |
| ·工作模式 TE01p的识别 | 第61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 测试结果与误差分析 | 第62-73页 |
| ·测试方式选择 | 第62-63页 |
| ·测试流程 | 第63-64页 |
| ·测试误差分析 | 第64-65页 |
| ·优化后空腔测试结果 | 第65-70页 |
| ·样品测试 | 第70-72页 |
| ·测试样品的加工要求 | 第70-71页 |
| ·样品的测试结果 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 结论 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |