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低维氮化铝纳米带的第一性原理研究

摘要第1-5页
Abstract第5-10页
第1章 绪论第10-14页
   ·纳米科学技术与纳米材料第10-11页
   ·纳米带研究现状第11-12页
   ·本文的基本内容结构第12-14页
第2章 理论计算方法和基础第14-20页
   ·绝热近似第14-16页
   ·单电子轨道近似方法第16页
   ·密度泛函理论第16-20页
     ·Hohenberg-Kohn(HK)定理第17页
     ·Kohn-Sham(KS)方程第17-18页
     ·密度泛函的简化方法第18页
     ·VASP模拟软件包第18-20页
第3章 悬挂键对氮化铝纳米带的电子和磁性特征的影响第20-34页
   ·引言第20-21页
   ·计算方法和模型第21-22页
   ·结果与讨论第22-31页
   ·结论第31-34页
第4章 异质结构单层AlNSI_x结构和电子特性的第一性原理研究第34-44页
   ·引言第34-35页
   ·计算模型和方法第35-36页
   ·结果与讨论第36-43页
     ·AlN薄片和纳米带第36-39页
     ·Si薄片和纳米带第39-41页
     ·AlNSi_x异质单层第41-43页
   ·结论第43-44页
第5章 一条硅链掺杂AlN纳米带的结构和电子特性第44-52页
   ·引言第44页
   ·计算模型和方法第44-45页
   ·结果与讨论第45-51页
   ·结论第51-52页
第6章 结论第52-54页
参考文献第54-62页
致谢第62-64页
攻读硕士学位期间科研成果第64页

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