| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT(英文摘要) | 第7-23页 |
| 第一章 引言 | 第23-31页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·标准模型 | 第23-26页 |
| ·寻找B→J/ψ baryon anti-baryon衰变的意义 | 第26-29页 |
| ·寻找奇异态 | 第26页 |
| ·B→J/ψ+X衰变动量谱低能区反常超出 | 第26-28页 |
| ·新的重子衰变模式 | 第28-29页 |
| ·寻找B→J/ψη′K衰变的意义 | 第29-31页 |
| 第二章 KEKB正负电子对撞机和Belle探测器[29,30,31,32] | 第31-45页 |
| ·KEKB正负电子对撞机 | 第31-32页 |
| ·Belle探测器 | 第32-45页 |
| ·顶点探测器(SVD) | 第34-36页 |
| ·中心漂移室(CDC) | 第36-37页 |
| ·切伦科夫计数器(ACC) | 第37-38页 |
| ·飞行时间计数器(TOF) | 第38-40页 |
| ·电磁量能器(ECL) | 第40-42页 |
| ·K_L/μ探测器(KLM) | 第42-43页 |
| ·端部前置量能器(EFC) | 第43-45页 |
| 第三章 基本物理分析工具 | 第45-55页 |
| ·粒子鉴别(PID) | 第45-51页 |
| ·似然函数 | 第45-48页 |
| ·电子的鉴别 | 第48-50页 |
| ·μ子的鉴别 | 第50-51页 |
| ·运动学拟合[31] | 第51-55页 |
| 第四章 B→J/ψ+baryon+anti-baryon的寻找 | 第55-97页 |
| ·数据样本(Data Sample) | 第55-56页 |
| ·M_(bc)、△E和和△M_B | 第56-59页 |
| ·事例选择和重建(Event Selection and Reconstruction) | 第59-67页 |
| ·SVD1和SVD2数据的比较 | 第59页 |
| ·连续本底的压制(Continuum Background Suppress) | 第59-60页 |
| ·J/ψ重建 | 第60-61页 |
| ·∧重建 | 第61-62页 |
| ·质子和反质子的挑选 | 第62-67页 |
| ·B介子重建(B Meson Reconstruction) | 第67-75页 |
| ·B~-→J/ψ∧(?)和部分重建B~-→J/ψ∑~0(?) | 第67-68页 |
| ·B~0→J/ψp(?) | 第68-74页 |
| ·本底检查 | 第74-75页 |
| ·信号解出(Signal Yield Extraction) | 第75-90页 |
| ·扩充的(extended)最大似然函数拟合方法 | 第75-76页 |
| ·B~-→J/ψ∧(?)和部分重建B~-→J/ψ∑~0(?)的PDFs | 第76-77页 |
| ·B~0→J／ψp(?)PDFs | 第77-79页 |
| ·校准样本研究(Control Sample Study) | 第79-81页 |
| ·253fb~(-1)真实数据拟合 | 第81-90页 |
| ·系统误差(Systematic Uncertainties) | 第90-93页 |
| ·探测效率中的系统误差(Systematic Uncertainty in Detection Efficiency) | 第91-93页 |
| ·本底解出的系统误差(Systematic Uncertainty in Background Yield) | 第93页 |
| ·信号上限(Upper Limit of Yield) | 第93-94页 |
| ·最后分支比结果(Branching Fraction) | 第94页 |
| ·总结和讨论(Conclusion and Discussion) | 第94-97页 |
| 第五章 B~-→J/ψη′／K~-和B~0→J/ψη′K_S~0衰变的寻找 | 第97-121页 |
| ·事例选择和重建(Event Selection and Reconstruction) | 第99-102页 |
| ·η′重建(η′ Reconstruction) | 第99-101页 |
| ·K介子挑选和K_s~0介子重建(K Selection and K_s~0 Reconstruction) | 第101-102页 |
| ·B介子重建(B Meson Reconstruction) | 第102-107页 |
| ·本底检查(Background Check) | 第107页 |
| ·信号解出(Signal Yield Extraction) | 第107-116页 |
| ·B~-J/ψη′K~-和B~0→J/ψη′K_S~0的PDFs | 第108页 |
| ·校准样本研究(Control Sample Study) | 第108-115页 |
| ·357 fb~(-1)真实数据拟合 | 第115-116页 |
| ·系统误差(Systematic Uncertainties) | 第116-119页 |
| ·探测效率中的系统误差(Systematic Uncertainty in Detection Efficiency) | 第116-119页 |
| ·本底解出的系统误差(systematic Uncertainty in Background Yield) | 第119页 |
| ·信号上限(Upper Limit of Yield) | 第119页 |
| ·最后分支比结果(Branching Fraction) | 第119-120页 |
| ·总结和讨论(Conclusion and Discussion) | 第120-121页 |
| 附录A EvtGen产生信号MC的衰变表(Decay Table) | 第121-126页 |
| 附录B SVD1和SVD2数据的比较 | 第126-135页 |
| B.1 M_(bc)和△M_B分布的比较 | 第126-132页 |
| B.2 质量分布和事例数的比较 | 第132-135页 |
| 附录C 拟合有效性检查(Validity Check of Fit) | 第135-143页 |
| 附录D A粒子重建系统误差研究 | 第143-149页 |
| 参考文献 | 第149-153页 |
| 在读期间的研究成果及发表的文章 | 第153-160页 |
| 致谢 | 第160-161页 |
