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等离子体薄膜表面制造中的偏压效应研究

摘要第1-7页
Abstract第7-13页
第1章 绪论第13-24页
   ·偏压辅助等离子体技术第13-18页
     ·等离子体工艺过程中的偏压技术第13-15页
     ·偏压辅助等离子体技术应用第15页
     ·偏压辅助等离子体技术在功能薄膜特征表面制造中的应用第15-17页
     ·偏压辅助等离子体基本过程第17-18页
   ·偏压辅助ECR微波等离子体技术第18-22页
     ·偏压辅助ECR微波等离子体的特点第18-19页
     ·偏压辅助ECR微波等离子体技术研究现状第19-22页
   ·本论文的主要工作第22-24页
第2章 实验装置及方法第24-39页
   ·实验装置介绍第24-29页
     ·电子回旋共振(ECR)微波等离子体装置第24-28页
     ·热丝化学气相沉积(HFCVD)装置第28-29页
   ·等离子体诊断方法第29-38页
     ·静电探针第29-36页
     ·发射光谱第36-38页
   ·常用结构分析方法第38-39页
     ·拉曼光谱第38页
     ·扫描电子显微镜第38-39页
第3章 ECR等离子体与直流偏压相互作用及表面制造第39-54页
   ·ECR微波等离子体源特征参数第39-43页
     ·氩等离子体特性诊断第39-41页
     ·几种气体放电的比较第41-43页
   ·ECR/DC等离子体特性及效应第43-52页
     ·实验第44页
     ·基底直流偏压的影响第44-48页
     ·微波功率的影响第48-50页
     ·气压的影响第50-52页
   ·本章小结第52-54页
第4章 ECR/RF等离子体特性及效应第54-81页
   ·ECR/RF等离子体特性第54-68页
     ·实验第54-56页
     ·放电模式第56-58页
     ·两种基底构型的比较第58-60页
     ·放电气体的比较第60-65页
     ·射频频率的比较第65-68页
   ·ECR/RF等离子体金刚石刻蚀研究第68-79页
     ·发射光谱诊断第68-72页
     ·实验第72-73页
     ·基底直流自偏压的影响第73-75页
     ·射频偏压频率的影响第75-77页
     ·氧/氪混合ECR/RF等离子体第77-79页
   ·本章小结第79-81页
第5章 ECR微波等离子体数值模拟第81-93页
   ·ECR微波等离子体物理分析第81-82页
   ·数学模型第82-86页
     ·离子的粒子模型第82-83页
     ·电子的流体模型第83-85页
     ·边界条件第85-86页
   ·数值模拟结果第86-92页
     ·ECR微波等离子体源的数值模拟第86-90页
     ·射频偏压辅助ECR微波等离子体的数值模拟第90-92页
   ·本章小结第92-93页
第6章 偏压型热丝直流等离子体金刚石特征表面制造第93-107页
   ·负偏压辅助热丝直流等离子体第93-99页
     ·金刚石/钼复合衬底的应用第93-94页
     ·实验第94-95页
     ·离子轰击时间的影响第95-98页
     ·基底温度的影响第98-99页
   ·正偏压辅助热丝直流等离子体第99-106页
     ·实验第100-103页
     ·基底效应的影响第103页
     ·等离子体气相环境的影响第103-105页
     ·金刚石外延生长面的光致发光研究第105-106页
   ·本章小结第106-107页
第7章 总结与展望第107-109页
   ·本论文的主要工作第107-108页
   ·进一步的研究方向第108-109页
参考文献第109-113页
致谢第113-114页
攻读学位期间发表的学术论文第114页

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