低压、低功耗CMOS模数转换器（ADC）的设计技术研究
| 第一章 绪论 | 第1-15页 |
| ·研究意义 | 第13-14页 |
| ·国内外研究状况和进展 | 第14页 |
| ·本文组织结构 | 第14-15页 |
| 第二章 ADC概述 | 第15-31页 |
| ·ADC的定义 | 第15-16页 |
| ·ADC的性能参数 | 第16-22页 |
| ·静态性能参数 | 第16-18页 |
| ·动态性能参数 | 第18-21页 |
| ·ADC的电路结构参数 | 第21-22页 |
| ·ADC的结构 | 第22-31页 |
| ·ADC的分类 | 第22-23页 |
| ·各种类型ADC工作原理及性能比较 | 第23-31页 |
| 第三章 低电压模拟功能块电路设计 | 第31-51页 |
| ·、低电压设计中的问题 | 第31页 |
| ·可靠的MOS开关 | 第31-33页 |
| ·单沟道MOS开关 | 第32页 |
| ·CMOS开关 | 第32-33页 |
| ·采样和保持电路 | 第33-43页 |
| ·采样方法 | 第33页 |
| ·采样定理 | 第33页 |
| ·MOS采样保持电路的原理及误差分析 | 第33-38页 |
| ·采样保持电路的噪声和功耗分析 | 第38-40页 |
| ·设计中要考虑的一些指标 | 第40-43页 |
| ·运算放大器 | 第43-48页 |
| ·MOS运放的特性 | 第43-44页 |
| ·运放的性能参数 | 第44-46页 |
| ·实际运放的设计 | 第46-48页 |
| ·比较器 | 第48-51页 |
| 第四章 低压、低功耗的流水线型ADC的设计技术 | 第51-60页 |
| ·流水线ADC的设计思想 | 第51-53页 |
| ·流水线型ADC的工作原理及结构 | 第53-54页 |
| ·流水线结构ADC的误差源 | 第54-55页 |
| ·数字自校正技术 | 第55-56页 |
| ·流水线型ADC实际设计中的考虑 | 第56-60页 |
| ·单级分辨率与线性度 | 第56-58页 |
| ·速度与功耗 | 第58-60页 |
| 第五章 电路实现及仿真 | 第60-71页 |
| ·行为级仿真 | 第60-64页 |
| ·单元电路的设计和仿真结果 | 第64-71页 |
| ·比较器和子ADC的设计 | 第64-66页 |
| ·运算放大器和MDAC的设计 | 第66-69页 |
| ·其他辅助电路的设计 | 第69-71页 |
| 第六章 总结和展望 | 第71-72页 |
| ·总结 | 第71页 |
| ·展望 | 第71-72页 |
| 附录一 动态比较器的Hspice仿真网表 | 第72-73页 |
| 附录二 运算放大器的Hspice仿真网表 | 第73-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 硕士在读期间发表论文 | 第78页 |
