| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-22页 |
| 1 引言 | 第11-12页 |
| 2 半导体量子点概述 | 第12-15页 |
| ·量子点的发光原理 | 第12-14页 |
| ·量子点的发光特性 | 第14-15页 |
| 3 纳米TiO_2的光学特性 | 第15-16页 |
| ·宽频带强吸收 | 第15页 |
| ·吸收边缘位移 | 第15页 |
| ·光致发光效应 | 第15-16页 |
| 4 纳米TiO_2光致发光的研究现状 | 第16-19页 |
| ·常规TiO_2晶体的光致发光 | 第16页 |
| ·纳米TiO_2粒子的光致发光 | 第16-17页 |
| ·影响纳米TiO_2光致发光的因素 | 第17-19页 |
| 5 论文选题意义及主要研究内容 | 第19-22页 |
| ·选题意义 | 第19-20页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第20-22页 |
| 第二章 纳米TiO_2溶胶的制备及其表征 | 第22-29页 |
| 1 实验试剂 | 第22页 |
| 2 实验中所用表征方法 | 第22-23页 |
| ·光致发光光谱(PL) | 第22页 |
| ·吸收光谱(UV-VIS) | 第22页 |
| ·原子力显微镜(AFM) | 第22-23页 |
| ·透射电子显微镜(TEM) | 第23页 |
| ·X-射线衍射分析(XRD) | 第23页 |
| ·激光共聚焦荧光显微镜 | 第23页 |
| 3 纳米TiO_2的制备 | 第23-25页 |
| ·常用纳米TiO_2的制备方法 | 第23-24页 |
| ·TiO_2纳米晶溶胶的制备 | 第24-25页 |
| 4 TiO_2纳米晶溶胶的表征 | 第25-28页 |
| ·原子力显微镜分析 | 第25-26页 |
| ·X-射线衍射分析 | 第26页 |
| ·透射电子显微镜分析 | 第26-27页 |
| ·光致发光谱分析 | 第27-28页 |
| 5 小结 | 第28-29页 |
| 第三章 实验条件对TiO_2纳米晶溶胶光致发光性能的影响 | 第29-44页 |
| 1 引言 | 第29页 |
| 2 制备条件对TiO_2纳米晶溶胶光致发光性能的影响 | 第29-37页 |
| ·热压时间的影响 | 第29-31页 |
| ·热压温度的影响 | 第31-33页 |
| ·制备体系中所用溶剂的影响 | 第33-34页 |
| ·反应中水量的影响 | 第34-36页 |
| ·HNO_3(浓)用量的影响 | 第36-37页 |
| 3 外部条件对TiO_2纳米晶溶胶光致发光性能的影响 | 第37-43页 |
| ·pH的影响 | 第37-40页 |
| ·浓度的影响 | 第40-43页 |
| 4 小结 | 第43-44页 |
| 第四章 TiO_2纳米晶荧光量子产率及溶胶中TiO_2含量的测定 | 第44-51页 |
| 1 引言 | 第44页 |
| 2 TiO_2纳米晶荧光量子产率的测量 | 第44-48页 |
| ·实验步骤 | 第44-45页 |
| ·实验结果 | 第45-47页 |
| ·结论 | 第47-48页 |
| 3 溶胶中TiO_2含量的测定 | 第48-51页 |
| ·实验步骤 | 第48-49页 |
| ·实验结果 | 第49-50页 |
| ·结论 | 第50-51页 |
| 第五章 TiO_2纳米晶用于标记脂质体的初步研究 | 第51-55页 |
| 1 引言 | 第51页 |
| 2 荧光探针技术用于脂质体稳定性研究的现状 | 第51-52页 |
| 3 TiO_2纳米晶用于脂质体稳定性研究的可能性 | 第52页 |
| 4 实验部分 | 第52-53页 |
| ·TiO_2纳米晶标记脂质体的制备 | 第52-53页 |
| ·标记脂质体的荧光显微镜观测 | 第53页 |
| 5 结论 | 第53-55页 |
| 结论 | 第55-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 致谢 | 第61页 |
