半导体光放大器自动测试系统
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-7页 |
1 绪论 | 第7-11页 |
·引言 | 第7-8页 |
·自动测试系统发展概况 | 第8-10页 |
·课题来源 | 第10页 |
·本文的主要工作 | 第10-11页 |
2 GPIB 接口简介 | 第11-27页 |
·GPIB 通用接口总线综述 | 第11-12页 |
·其它几种常见总线 | 第12-13页 |
·GPIB 接口的硬件 | 第13-17页 |
·GPIB 通信机理分析 | 第17-19页 |
·NI488.2 标准及其使用 | 第19-26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
3 半导体光放大器的性能参数与测试方法 | 第27-35页 |
·半导体光放大器的工作原理 | 第27-28页 |
·半导体光放大器的应用 | 第28-30页 |
·半导体光放大器组件的主要性能参数及测试方法 | 第30-33页 |
·本章小结 | 第33-35页 |
4 半导体光放大器自动测试系统的构成 | 第35-55页 |
·半导体光放大器自动测试系统的硬件构成 | 第35-38页 |
·半导体光放大器自动测试系统的软件构成 | 第38-53页 |
·本章小结 | 第53-55页 |
5 总结 | 第55-56页 |
致谢 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-59页 |
附录1 攻读学位期间发表论文目录 | 第59-60页 |
附录2 测试系统软件部分实现代码 | 第60-83页 |