| 图表索引 | 第1-16页 |
| 第一章 概述 | 第16-23页 |
| 1．1 频率特性测试仪的基本原理 | 第16-17页 |
| 1．2 频率特性测试仪的发展历程 | 第17-19页 |
| 1．3 我国频率特性测试仪的市场现状 | 第19-20页 |
| 1．4 论文选题出发点 | 第20页 |
| 1．5 论文选题的理论和实际意义 | 第20-21页 |
| 1．6 本论文完成的工作 | 第21-22页 |
| 1．7 本章小结 | 第22-23页 |
| 第二章 低成本频率特性测试仪的系统设计 | 第23-27页 |
| 2．1 低成本频率测试仪系统功能概述 | 第23页 |
| 2．2 系统整体设计方案 | 第23-26页 |
| 2．2．1 模式1-幅频特性测试模式 | 第24页 |
| 2．2．2 模式2-普通正弦信号源模式 | 第24-25页 |
| 2．2．3 模式3-正弦扫频信号源模式 | 第25-26页 |
| 2．3 系统各组成模块完成的功能 | 第26页 |
| 2．4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 测试仪中信号源的设计和实现 | 第27-57页 |
| 3．1 信号源设计概述 | 第27-28页 |
| 3．2 DDS频率合成技术简介 | 第28-31页 |
| 3．3 DDS信号源实现方案选择 | 第31-32页 |
| 3．4 FPGA简介 | 第32页 |
| 3．5 用 FPGA来实现 DDS扫频信号源的硬件设计 | 第32-41页 |
| 3．5．1 信号源中 FPGA硬件电路设计 | 第33-37页 |
| 3．5．1．1 FPGA选型 | 第33-34页 |
| 3．5．1．2 电路设计 | 第34-37页 |
| 3．5．2 信号源中D/A转换电路设计 | 第37-39页 |
| 3．5．2．1 D/A转换器的选型 | 第37-39页 |
| 3．5．2．2 D/A转换器和 FPGA的接口设计 | 第39页 |
| 3．5．2．3 D/A转换器连接的运算放大器的选择 | 第39页 |
| 3．5．3 滤波电路设计 | 第39-41页 |
| 3．6 FPGA芯片的程序设计 | 第41-52页 |
| 3．6．1 开发工具 MAX+Plus Ⅱ 10．1简介 | 第41-42页 |
| 3．6．2 FPGA程序设计整体规划 | 第42-43页 |
| 3．6．3 FPGA内部各功能模块设计 | 第43-51页 |
| 3．6．3．1 相位累加器模块设计 | 第43-44页 |
| 3．6．3．2 寄存器模块设计 | 第44-45页 |
| 3．6．3．3 正弦波形数据存储器模块设计 | 第45-51页 |
| 3．6．4 FPGA中的顶层电路设计 | 第51-52页 |
| 3．7 FPGA芯片引脚功能定义及其配置 | 第52页 |
| 3．8 FPGA中各功能模块及顶层电路的软件仿真 | 第52-56页 |
| 3．8．1 相位累计器模块的软件仿真 | 第52-53页 |
| 3．8．2 寄存器模块的软件仿真 | 第53页 |
| 3．8．3 波形数据存储器模块的软件仿真 | 第53-54页 |
| 3．8．4 顶层电路的软件仿真 | 第54-56页 |
| 3．9 本章小结 | 第56-57页 |
| 第四章 基于 MSP430单片机的控制电路设计 | 第57-79页 |
| 4．1 单片机选型 | 第57-59页 |
| 4．2 测试仪系统中 MSP430F449单片机及外围电路设计 | 第59-72页 |
| 4．2．1 单片机电源电路设计 | 第60页 |
| 4．2．2 单片机时钟电路和复位电路设计 | 第60页 |
| 4．2．3 单片机键盘电路设计 | 第60-63页 |
| 4．2．4 单片机与 LCD的接口电路设计 | 第63-67页 |
| 4．2．5 单片机与 DDS信号源的接口电路设计 | 第67-68页 |
| 4．2．6 单片机与 D/A转换器3的接口电路设计 | 第68-69页 |
| 4．2．7 检波电路设计 | 第69-72页 |
| 4．3 单片机软件设计 | 第72-77页 |
| 4．3．1 主程序设计 | 第73页 |
| 4．3．2 工作模式1子程序设计 | 第73-76页 |
| 4．3．3 工作模式2子程序设计 | 第76-77页 |
| 4．3．4 工作模式3子程序设计 | 第77页 |
| 4．4 本章小结 | 第77-79页 |
| 第五章 原理验证实验 | 第79-106页 |
| 5．1 实验装置介绍 | 第79-88页 |
| 5．1．1 实验装置设计说明及原理图 | 第79-84页 |
| 5．1．1．1 实验装置中的 DDS信号源的设计及其原理图 | 第79-82页 |
| 5．1．1．2 实验装置中控制电路的设计及其原理图 | 第82-84页 |
| 5．1．2 实验装置电路板的设计 | 第84-87页 |
| 5．1．3 实验装置图片 | 第87-88页 |
| 5．2 MSP430单片机的开发过程简要介绍 | 第88页 |
| 5．3 四个验证实验 | 第88-105页 |
| 5．3．1 实验1——DDS信号源输出幅值和频率固定的正弦波 | 第88-90页 |
| 5．3．2 实验2——DDS信号源输出幅值固定频率递增的扫频波 | 第90-92页 |
| 5．3．3 实验3——测试仪测量一个低通滤波网络的幅频特性 | 第92-95页 |
| 5．3．4 实验4——测试仪的键盘和 LCD功能测试 | 第95-105页 |
| 5．4 本章小结 | 第105-106页 |
| 第六章 完成频率特性测试仪系统集成的 SOPC方案 | 第106-112页 |
| 6．1 SOPC简介 | 第106页 |
| 6．2 运用 SOPC方案设计频率特性测试仪系统的可行性分析 | 第106-107页 |
| 6．3 运用 SOPC方案实现系统设计 | 第107-111页 |
| 6．3．1 Cyclone Ⅱ器件介绍及其在本设计中的应用 | 第107-108页 |
| 6．3．2 Nios Ⅱ处理器介绍 | 第108-109页 |
| 6．3．3 用Cyclone Ⅱ器件实现测试仪系统设计的总体架构 | 第109-111页 |
| 6．4 本章小结 | 第111-112页 |
| 第七章 总结与展望 | 第112-114页 |
| 7．1 总结 | 第112页 |
| 7．2 展望 | 第112-114页 |
| 参考文献 | 第114-118页 |
| 致谢 | 第118-119页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第119页 |
