基于Intel 80C196KB控制的矿用高压配电装置测控系统的研究
| 第一章 绪论 | 第1-14页 |
| 1．1 研究高压配电装置测控系统的意义 | 第10页 |
| 1．2 矿井高压配电装置测控系统的发展与现状 | 第10-11页 |
| 1．3 研究新型高压配电装置测控系统的必要性 | 第11-13页 |
| 1．4 本文的研究目标和内容 | 第13-14页 |
| 第二章 矿井高压电网常见故障与保护原理 | 第14-26页 |
| 2．1 选择性漏电保护 | 第14-18页 |
| 2．1．1 矿井高压电网漏电故障特征 | 第14-17页 |
| 2．1．2 选择性漏电保护原理 | 第17-18页 |
| 2．2 短路保护 | 第18-21页 |
| 2．2．1 短路故障的暂态过程 | 第18-20页 |
| 2．2．2 短路故障的保护原理 | 第20-21页 |
| 2．3 过负荷保护 | 第21-22页 |
| 2．3．1 过负荷特性 | 第21页 |
| 2．3．2 过负荷保护原理 | 第21页 |
| 2．3．3 热量积累 | 第21-22页 |
| 2．4 电压保护 | 第22-23页 |
| 2．5 监视线保护 | 第23-25页 |
| 2．6 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 测控系统的信号采样及算法 | 第26-34页 |
| 3．1 采样方式的选择 | 第26-27页 |
| 3．2 微机保护算法的分析 | 第27-32页 |
| 3．2．1 正弦模型算法 | 第28-30页 |
| 3．2．2 非正弦模型算法 | 第30-32页 |
| 3．3 本章小结 | 第32-34页 |
| 第四章 锁相环同步控制 | 第34-41页 |
| 4．1 同步采样 | 第34-35页 |
| 4．2 锁相环的基本原理 | 第35页 |
| 4．3 数字集成锁相环 | 第35-36页 |
| 4．4 采用锁相环的同步控制 | 第36-40页 |
| 4．4．1 锁相环同步采样电路的实现 | 第36-39页 |
| 4．4．2 锁相环在交流采样中的应用 | 第39-40页 |
| 4．5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第五章 测控系统的硬件电路设计 | 第41-70页 |
| 5．1 系统硬件的总体设计 | 第41-42页 |
| 5．2 微机系统 | 第42-48页 |
| 5．2．1 中央处理器的选择 | 第42-45页 |
| 5．2．2 微机系统的外围扩展单元 | 第45-48页 |
| 5．3 模拟量输入 | 第48-62页 |
| 5．3．1 交流采样单元 | 第49-56页 |
| 5．3．2 选择性漏电处理单元 | 第56-61页 |
| 5．3．3 绝缘监视保护单元 | 第61-62页 |
| 5．4 开关量输入、输出单元 | 第62-64页 |
| 5．4．1 开关量输入回路 | 第62-63页 |
| 5．4．2 开关量输出回路 | 第63-64页 |
| 5．5 人机交互接口单元 | 第64-66页 |
| 5．5．1 液晶显示模块 | 第64-65页 |
| 5．5．2 键盘电路的设计 | 第65-66页 |
| 5．5．3 键盘与液晶显示 | 第66页 |
| 5．6 通讯接口 | 第66-68页 |
| 5．7 保护装置的防爆措施 | 第68-69页 |
| 5．8 本章小结 | 第69-70页 |
| 第六章 测控系统软件设计 | 第70-87页 |
| 6．1 单片机仿真系统和单片机编程器 | 第71-72页 |
| 6．2 主控模块程序 | 第72-73页 |
| 6．3 功能模块程序 | 第73-85页 |
| 6．3．1 自检与初始化模块 | 第73-75页 |
| 6．3．2 参数整定模块 | 第75-76页 |
| 6．3．3 数据采集模块 | 第76页 |
| 6．3．4 数据处理模块 | 第76-84页 |
| 6．3．5 频率计算模块 | 第84页 |
| 6．3．6 故障判断模块 | 第84-85页 |
| 6．3．7 液晶显示模块 | 第85页 |
| 6．3．8 RS-485通讯模块 | 第85页 |
| 6．4 本章小结 | 第85-87页 |
| 第七章 测控系统抗干扰设计 | 第87-94页 |
| 7．1 概述 | 第87-88页 |
| 7．2 硬件抗干扰措施 | 第88-91页 |
| 7．2．1 去耦电路 | 第88-89页 |
| 7．2．2 地线设计 | 第89页 |
| 7．2．3 总线的可靠性设计 | 第89-90页 |
| 7．2．4 印刷电路板抗干扰措施 | 第90-91页 |
| 7．3 软件抗干扰措施 | 第91-93页 |
| 7．3．1 数据抗干扰方法 | 第91-92页 |
| 7．3．2 程序运行异常处理 | 第92-93页 |
| 7．4 本章小结 | 第93-94页 |
| 第八章 实验及结果分析 | 第94-109页 |
| 8．1 实验条件 | 第94-95页 |
| 8．2 硬件电路的调试 | 第95-97页 |
| 8．3 软硬件的联合调试 | 第97-101页 |
| 8．4 保护功能调试 | 第101-107页 |
| 8．5 系统整体调试 | 第107-108页 |
| 8．6 本章小结 | 第108-109页 |
| 第九章 研究结论 | 第109-111页 |
| 参考文献 | 第111-114页 |
| 附录 | 第114-116页 |
| 致谢 | 第116-117页 |
| 作者在攻读硕士学位期间的研究成果 | 第117页 |
