| 1 绪论 | 第1-12页 |
| 1．1 引言 | 第9-10页 |
| 1．2 本文的主要研究内容 | 第10-12页 |
| 2 基于混沌的微弱信号检测 | 第12-30页 |
| 2．1 引言 | 第12-13页 |
| 2．2 Duffing振子的混沌特性分析 | 第13-17页 |
| 2．2．1 Duffing振子的分岔现象 | 第14-15页 |
| 2．2．2 Duffing振子的数值分析 | 第15-17页 |
| 2．3 基于混沌的弱信号检测原理 | 第17-20页 |
| 2．3．1 Duffing振子检测原理 | 第17-19页 |
| 2．3．2 存在的不足 | 第19-20页 |
| 2．4 混沌特性判别方法 | 第20-21页 |
| 2．5 基于图像识别混沌的弱信号检测 | 第21-29页 |
| 2．5．1 理论基础 | 第21-24页 |
| 2．5．2 混沌的图像识别方法 | 第24-25页 |
| 2．5．3 检测系统总体设计方案 | 第25页 |
| 2．5．4 检测原理及系统流程 | 第25-27页 |
| 2．5．5 仿真研究 | 第27-29页 |
| 2．6 小结 | 第29-30页 |
| 3 基于Lyapunov指数的弱信号检侧 | 第30-47页 |
| 3．1 引言 | 第30-31页 |
| 3．2 混沌检测系统的总体设计方案 | 第31-32页 |
| 3．3 基于模型的 LE计算和阈值f_c确定 | 第32-34页 |
| 3．4 基于状态空间重构的 LE计算和临界状态自动识别 | 第34-42页 |
| 3．4．1 相空间重构理论 | 第35-37页 |
| 3．4．2 相空间重构及参数选取 | 第37-40页 |
| 3．4．3 小数据量法 | 第40-41页 |
| 3．4．4 最大 LE算法流程 | 第41-42页 |
| 3．5 仿真结果及分析 | 第42-46页 |
| 3．6 小结 | 第46-47页 |
| 4 基于混沌的 A/D转换器研究 | 第47-68页 |
| 4．1 引言 | 第47-48页 |
| 4．2 几种混沌 A/D转换器的结构及原理 | 第48-55页 |
| 4．2．1 混沌 A/D转换器设计思想 | 第48-50页 |
| 4．2．2 贝努力映射 | 第50-53页 |
| 4．2．3 倒锯齿型映射 | 第53-55页 |
| 4．3 电路仿真实验 | 第55-62页 |
| 4．3．1 OrCAD/PSpice软件简介 | 第55-57页 |
| 4．3．2 贝努力映射型混沌 A/D转换器仿真研究 | 第57-59页 |
| 4．3．3 倒锯齿映射型混沌 A/D转换器仿真研究 | 第59-61页 |
| 4．3．4 灵敏度仿真实验 | 第61-62页 |
| 4．3．4 实验结果分析 | 第62页 |
| 4．4 贝努力映射型混沌 A/D转换电路实验 | 第62-67页 |
| 4．4．1 硬件电路总体设计 | 第62-63页 |
| 4．4．2 逻辑控制部分设计 | 第63-64页 |
| 4．4．3 实验结果及其对比分析 | 第64-67页 |
| 4．5 小结 | 第67-68页 |
| 5 结论 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-77页 |
| 作者在攻读硕士期间所发表的论文 | 第77页 |
