摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-9页 |
前言 | 第9-11页 |
第一章 文献综述 | 第11-34页 |
·SMPU的结构和形状记忆机理 | 第11-13页 |
·SMPU的研究现状 | 第13-16页 |
·SMPU的应用 | 第16-21页 |
·建筑和力学机械领域的应用 | 第16-17页 |
·应用于温度敏感器械 | 第17页 |
·纺织方面的应用 | 第17-19页 |
·医学方面的应用 | 第19-20页 |
·其它方面的应用 | 第20-21页 |
·聚合物的电磁屏蔽材料 | 第21-34页 |
·电磁屏蔽的基本原理 | 第21-23页 |
·电磁屏蔽复合材料的研究现状 | 第23页 |
·表层导电型屏蔽聚合物 | 第23-25页 |
·填充复合型聚合物电磁屏蔽材料 | 第25-30页 |
·金属填充型导电电磁屏蔽聚合物 | 第26-27页 |
·炭填充型复合电磁屏蔽材料 | 第27-30页 |
·影响导电聚合物屏蔽效果的因素 | 第30-33页 |
·聚合物基体的影响 | 第30-31页 |
·导电填料的影响 | 第31-32页 |
·加工工艺的影响 | 第32-33页 |
·电磁屏蔽聚合物复合材料展望 | 第33-34页 |
第二章 实验部分 | 第34-38页 |
·实验原料 | 第34页 |
·SMPU的制备 | 第34-35页 |
·原料的纯化 | 第34页 |
·SMPU的合成 | 第34-35页 |
·SMPU片材的制备 | 第35页 |
·电磁屏蔽SMPU的制备 | 第35页 |
·ACET/SMPU共混材料的制备 | 第35页 |
·BaTiO_3/SMPU共混材料的制备 | 第35页 |
·ACET/BaTiO_3/SMPU共混材料的制备 | 第35页 |
·SMPU表征及性能测试 | 第35-38页 |
·傅立叶红外光谱分析 | 第35-36页 |
·力学性能的测试 | 第36页 |
·形状记忆性能的测试 | 第36页 |
·分子量的测定 | 第36页 |
·电阻率测试 | 第36-37页 |
·介电常数的测试 | 第37-38页 |
第三章 SMPU的制备工艺研究 | 第38-58页 |
·制备方法的选择 | 第38-40页 |
·本体熔融缩聚 | 第38-39页 |
·溶液聚合 | 第39-40页 |
·反应原料的选择 | 第40-45页 |
·二异氰酸酯的选择 | 第40-42页 |
·聚酯或聚醚二元醇的选择 | 第42-43页 |
·扩链剂的选择 | 第43-44页 |
·溶剂和助剂的选择 | 第44-45页 |
·反应原料摩尔比例的确定 | 第45页 |
·SMPU的制备 | 第45-51页 |
·SMPU的合成反应 | 第45-46页 |
·影响SMPU性能的因素 | 第46-51页 |
·溶剂的影响 | 第46-47页 |
·反应温度的影响 | 第47-49页 |
·反应时间的影响 | 第49页 |
·退火的影响 | 第49-51页 |
·SMPU的红外光谱表征 | 第51-56页 |
·MDI和PBA的红外光谱图 | 第51-52页 |
·合成过程的红外光谱图 | 第52-56页 |
·SMPU的性能 | 第56页 |
·小结 | 第56-58页 |
第四章 SMPU/碳黑共混材料的制备与性能研究 | 第58-76页 |
·ACET/SMPU体系的性能 | 第58-63页 |
·碳黑含量对导电性的的影响 | 第58-61页 |
·碳黑含量对力学性能的影响 | 第61-63页 |
·碳黑含量对形状记忆性能的影响 | 第63页 |
·BaTiO_3/SMPU体系的性能 | 第63-70页 |
·BaTiO_3含量对介电常数的影响 | 第63-66页 |
·BaTiO_3含量对导电性的影响 | 第66页 |
·BaTiO_3含量对力学性能的影响 | 第66-69页 |
·BaTiO_3含量对形状记忆性能的影响 | 第69-70页 |
·ACET/BaTiO_3/SMPU体系的性能 | 第70-74页 |
·填料含量对介电常数的影响 | 第71-72页 |
·填料含量对导电性的影响 | 第72-73页 |
·填料含量对力学性能的影响 | 第73-74页 |
·填料含量对形状记忆性能的影响 | 第74页 |
·小结 | 第74-76页 |
·ACET/SMPU体系 | 第74-75页 |
·BaTiO_3/SMPU体系 | 第75页 |
·ACET/BaTiO_3/SMPU体系 | 第75-76页 |
第五章 结论与创新 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-80页 |
致谢 | 第80-81页 |