合成孔径雷达对抗技术研究
| 第一章 绪论 | 第1-12页 |
| ·引言 | 第8-9页 |
| ·合成孔径雷达简介 | 第8页 |
| ·合成孔径雷达对抗技术 | 第8-9页 |
| ·国内外研究概况及动态 | 第9-11页 |
| ·SAR研究及动态 | 第9-10页 |
| ·SAR对抗技术应用及动态 | 第10-11页 |
| ·本文结构安排 | 第11-12页 |
| 第二章 合成孔径雷达成像原理 | 第12-21页 |
| ·合成孔径雷达的结构 | 第12-14页 |
| ·成孔径雷达成像原理 | 第14-21页 |
| ·回波模型 | 第14-16页 |
| ·成像算法 | 第16-18页 |
| ·成像处理增益 | 第18-19页 |
| ·SAR方位分辨力 | 第19-21页 |
| 第三章 合成孔径雷达干扰技术 | 第21-54页 |
| ·对SAR实施干扰的有利和不利因素 | 第21-22页 |
| ·SAR图像质量指标 | 第22-25页 |
| ·干扰方式概述 | 第25页 |
| ·SAR干扰设备的组成及工作原理 | 第25-26页 |
| ·压制性干扰技术 | 第26-30页 |
| ·欺骗性干扰技术 | 第30-33页 |
| ·半匹配干扰 | 第33-37页 |
| ·合成孔径雷达的干扰功率分析 | 第37-54页 |
| ·对点目标干扰的功率分析 | 第37-39页 |
| ·影响干扰功率的其他因素 | 第39-54页 |
| ·从发射和接收的全过程来分析功率 | 第39-41页 |
| ·限幅对SAR图像的影响 | 第41-46页 |
| ·模数转换器动态范围的影响 | 第46-50页 |
| ·SAR对分布式目标成像 | 第50-54页 |
| 第四章 SAR抗干扰技术 | 第54-72页 |
| ·SAR抗干扰的分类 | 第54-56页 |
| ·按抗干扰的位置分类 | 第56页 |
| ·其他分类 | 第56页 |
| ·成像前抗干扰方法 | 第56-67页 |
| ·双通道对消 | 第56-65页 |
| ·双通道系统模型 | 第57-60页 |
| ·对消的系统考虑 | 第60页 |
| ·双通道对消对成像的影响 | 第60-61页 |
| ·仿真试验 | 第61-65页 |
| ·旁瓣消隐 | 第65-66页 |
| ·极化选择法 | 第66-67页 |
| ·变极化技术 | 第66-67页 |
| ·极化干扰自消技术 | 第67页 |
| ·成像处理过程中的抗干扰 | 第67-72页 |
| ·提高脉冲重复频率 | 第67-69页 |
| ·对脉冲干扰的抑制方法 | 第69-72页 |
| 第五章 SAR仿真技术 | 第72-80页 |
| ·回波信号模拟概述 | 第72页 |
| ·散射模型 | 第72-73页 |
| ·点目标回波模拟 | 第73-75页 |
| ·面目标回波模拟 | 第75-77页 |
| ·仿真平台 | 第77-80页 |
| 第六章 结束语 | 第80-82页 |
| 致 谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-85页 |
