| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| ·研究背景和意义 | 第11-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-15页 |
| ·电子倍增器寿命评估技术研究现状 | 第12页 |
| ·加速退化试验方法及应用研究现状 | 第12-15页 |
| ·研究思路与主要内容 | 第15-17页 |
| ·问题的提出 | 第15页 |
| ·研究思路 | 第15页 |
| ·论文主要内容 | 第15-17页 |
| 第二章 电子倍增器基本原理与失效分析 | 第17-23页 |
| ·电子倍增器基本原理 | 第17-18页 |
| ·电子倍增器退化失效分析 | 第18-22页 |
| ·电子倍增器的增益 | 第18-20页 |
| ·电子倍增器的退化失效 | 第20-21页 |
| ·电子倍增器增益的线性特性 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 双应力加速退化试验建模分析方法 | 第23-33页 |
| ·双应力加速模型 | 第23-26页 |
| ·物理加速模型 | 第23-25页 |
| ·数学加速模型 | 第25-26页 |
| ·双应力加速模型建模 | 第26页 |
| ·基于伪失效寿命的建模分析方法 | 第26-30页 |
| ·伪失效寿命建模分析方法的基本思想 | 第26-27页 |
| ·伪失效建模分析方法流程 | 第27-29页 |
| ·伪失效寿命分布拟合优化方法 | 第29-30页 |
| ·基于退化量分布的建模分析方法 | 第30-32页 |
| ·退化量分布建模分析方法的基本思想 | 第30-31页 |
| ·退化量分布建模分析方法流程 | 第31-32页 |
| ·同步退化数据的获取 | 第32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 电子倍增器双应力加速退化试验 | 第33-52页 |
| ·加速退化试验平台 | 第33-35页 |
| ·电子倍增器双应力加速退化试验设计 | 第35-42页 |
| ·电子倍增器摸底试验方案 | 第35-37页 |
| ·摸底试验分析模型 | 第37-39页 |
| ·最高加速应力水平确定 | 第39-40页 |
| ·电子倍增器双应力恒加退化试验设计 | 第40-42页 |
| ·电子倍增器双应力加速模型 | 第42-43页 |
| ·基于伪失效寿命的电子倍增器寿命评估 | 第43-47页 |
| ·试验数据预处理 | 第43-45页 |
| ·估计各应力水平下所有样本退化轨迹模型参数 | 第45页 |
| ·计算各应力水平下产品的伪失效寿命T | 第45页 |
| ·估计不同应力水平下产品寿命模型分布参数 | 第45-46页 |
| ·建立加速模型外推产品使用条件下伪失效寿命分布参数 | 第46-47页 |
| ·基于退化量分布的电子倍增器寿命评估 | 第47-51页 |
| ·试验数据预处理 | 第47-48页 |
| ·判定时刻t_1,t_2 ,…,t_(ma)时各样本退化量所服从分布类 | 第48页 |
| ·计算退化量分布参数 | 第48-49页 |
| ·分布参数曲线拟合 | 第49-50页 |
| ·建立加速模型 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 电子倍增器寿命评估方法适用性分析 | 第52-62页 |
| ·常用模型评价选择准则 | 第52-54页 |
| ·残差分析 | 第52-53页 |
| ·模型适合性检验 | 第53页 |
| ·模型精度分析 | 第53-54页 |
| ·Akaike 信息准则 | 第54页 |
| ·基于伪失效寿命建模分析方法适用性分析 | 第54-57页 |
| ·残差分析 | 第54-55页 |
| ·模型适合性检验 | 第55-56页 |
| ·模型精度分析 | 第56-57页 |
| ·基于退化量分布建模分析方法适用性分析 | 第57-59页 |
| ·残差分析 | 第57-58页 |
| ·模型适合性检验 | 第58-59页 |
| ·模型精度分析 | 第59页 |
| ·不同评价方法的结论对比分析 | 第59-61页 |
| ·伪失效寿命建模分析方法 | 第60页 |
| ·退化量分布建模分析方法 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 结束语 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第67页 |